Occasion JEOL 7200 #9274854 à vendre en France

JEOL 7200 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est souvent utilisé dans un large éventail d'applications analytiques et de recherche, y compris la recherche biologique, polymère, minérale et des matériaux. Le SEM fonctionne selon trois modes de fonctionnement distincts : imagerie électronique secondaire (SEI), imagerie électronique rétrodiffusée (BEI) et détection de rayons X dispersifs en énergie (EDX). 7200 fournit une excellente imagerie des spécimens qui permet en outre la cartographie et l'analyse élémentaire des compositions de l'échantillon. Le SEM dispose d'un équipement sous vide automatisé pour le traitement de l'échantillon et d'une haute résolution du courant du faisceau d'électrons pour une meilleure imagerie. Les systèmes intégrés d'environnement et d'analyse offrent également des caractéristiques de chromatographie supérieures, telles que la microanalyse élémentaire et la chromatographie en phase gazeuse. JEOL 7200 a une large gamme de résolution qui convient à une variété de spécimens ; il dispose d'un système de détection qui utilise une unité d'échantillonnage d'image automatisée et règle automatiquement la zone de balayage et le grossissement. Le SEM est également doté d'un canon à émission de champ et d'une électronique d'imagerie ; il est équipé d'un émetteur de canon à électrons ultra-fidélité, d'un déflecteur à balayage de haute stabilité et d'une électronique numérique pour la commande du faisceau d'électrons. 7200 SEI mode peut être utilisé pour capturer de vraies images en couleur de spécimens. Le mode BEI peut être utilisé pour mesurer la rugosité de surface, la porosité et les textures structurelles des spécimens. Le mode EDX permet une analyse élémentaire de l'échantillon. La machine intégrée de chromatographie en phase gazeuse offre en outre des capacités d'analyse supérieures pour des applications de recherche. JEOL 7200 offre des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures pour les applications de recherche. Il dispose également d'un outil de visualisation de faisceau d'électrons haute résolution, d'une optique électronique capable de fonctionner jusqu'à 150kV, et d'un étage précis de nanomètre 3 axes. Le SEM est utilisé pour diverses applications de recherche scientifique telles que l'étude des distributions d'éléments dans les microstructures, la réalisation d'analyses élémentaires organiques et inorganiques ou l'étude des surfaces d'échantillons de matériaux.