Occasion JEOL 7400 #9399277 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL 7400 (SEM) est un appareil de pointe pour l'imagerie et l'analyse des morphologies de surface. C'est l'un des microscopes avancés et puissants de JEOL, combinant des performances exceptionnelles avec des fonctionnalités de pointe. 7400 est capable d'acquérir des images à haute résolution et à haute sensibilité, tout en assurant un contrôle précis des conditions environnementales pendant l'observation. JEOL 7400 est un SEM d'émission de champ et comprend une source d'électrons à focalisation fine incorporée, un contrôle de courant de faisceau de haute précision et des émissions de courant de charge faibles. Ce SEM fonctionne à des températures allant de -100 ° C à 100 ° C, offrant une imagerie polyvalente des échantillons biologiques et non biologiques. De plus, il est capable de générer des images à haute résolution et d'analyser des échantillons non conducteurs à l'aide de la technologie SEM environnementale. Avec son grand champ de vision de 21,3 cm (W) x 19 cm (H) et sa résolution de 3nm, 7400 offre une imagerie haute résolution et une analyse précise des échantillons 3D. Il dispose de l'imagerie la plus haute résolution, d'une résolution de 50nm, d'un transfert d'échantillons semi-automatique et d'une interface utilisateur intuitive. En outre, ce SEM nécessite un minimum de maintenance, bénéficie d'excellentes performances de basse tension d'accélération, et offre un faible coût de propriété. JEOL 7400 offre une variété de fonctionnalités supplémentaires, y compris des capacités de manipulation et d'analyse d'images, d'imagerie en direct, d'imagerie de détail à haute résolution d'électrons secondaires et de modes opérationnels spéciaux pour la production de structures cristallines. Son système de grossissement propriétaire permet également à 7400 d'atteindre jusqu'à 500000x grossissement sans aucune distorsion de l'échantillon observé. De plus, ce SEM est capable d'acquérir une large gamme de grossissements en une seule exposition, permettant une utilisation efficace du système d'imagerie. Le microscope électronique JEOL 7400 à balayage offre des performances inégalées, fournissant une imagerie haute résolution avec une analyse précise des échantillons 3D. Son interface graphique intuitive, le transfert semi-automatique d'échantillons et la technologie SEM environnementale en option offrent aux scientifiques des performances et une efficacité améliorées. Avec son système de grossissement exclusif et ses capacités d'imagerie avancées, 7400 permet d'observer avec précision un large éventail d'échantillons.