Occasion JEOL 7400 #9410397 à vendre en France

JEOL 7400 est un système de microscopie électronique à balayage (SEM) soigneusement conçu pour fournir une imagerie et une analyse de matériaux à haute résolution fiables dans un large éventail d'applications. Ce SEM est équipé d'un canon à émission de champ (FE) et d'une colonne avec un étage de spécimen incliné qui peut traiter un large éventail d'échantillons, y compris des objets fragiles. Ce SEM est conçu avec un canon à électrons qui a une grande stabilité, une grande profondeur de champ et un faible bruit de fond, ainsi qu'une grande chambre d'échantillon pour accueillir différentes tailles d'échantillons. 7400 est capable d'imiter de grandes structures à des grossissements élevés et son analyse aux rayons X fournit d'excellentes informations sur la composition chimique. Il offre également une imagerie électronique secondaire précise aux petits courants de faisceau, ce qui le rend bien adapté à l'imagerie d'échantillons délicats. JEOL 7400 dispose d'une optique électronique qui comprend un diaphragme à ouverture en colonne pour permettre une gamme complète de courants de faisceau allant des nano-ampères aux milli-ampères. Il dispose également d'un objectif en colonne pour une gamme de grossissements allant jusqu'à 50000x. La source d'électrons a une durée de vie de 30 000 heures, assurant les performances et la précision les plus élevées pour les études de longue durée. 7400 est un SEM polyvalent et puissant qui offre une combinaison d'une excellente imagerie, une grande profondeur de champ et l'incorporation de détecteurs en colonne pour la spectroscopie des rayons X. Ce SEM est conçu pour fournir des résultats fiables et précis sur un large éventail de matériaux. Cela en fait un instrument idéal pour l'analyse biologique, géologique et métallurgique.