Occasion JEOL 840 #293618108 à vendre en France

JEOL 840 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour les utilisateurs à la recherche d'une technologie d'imagerie avancée. Il offre une performance d'imagerie de pointe et offre un large éventail de capacités idéales pour les chercheurs effectuant des applications d'imagerie de routine et sophistiquées. Avec son puissant paquet SEM, les utilisateurs sont en mesure d'effectuer une imagerie rapide et fiable pour des types d'échantillons polyvalents et un large éventail d'épaisseurs d'échantillons. Cet instrument dispose également d'un spectromètre à filtre Wien innovant (WFS) capable de : analyse élémentaire rapide et fiable, EDS avec imagerie plein spectre, mesure automatique de la composition à chaque pixel rapidement et avec précision, et cartographie élémentaire image par image de l'échantillon. Le paquet SEM de 840 se compose d'un canon Everhart-Thornley à émission de champ avec un contraste TV 4:1, un détecteur de champ noir annulaire à faible angle et une pièce polaire cinq fois prouvée pour empêcher toute aberration astigmatique. Le SEM possède également une large gamme d'optiques électroniques haut de gamme, y compris un détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSD), un détecteur d'électrons secondaire (SED) et un détecteur secondaire basse tension (LVSD). Il est capable d'acquérir des images de contraste élevé avec un niveau de bruit extrêmement faible, fournissant d'excellentes performances optiques d'électrons et un excellent rapport signal sur bruit. Le WFS combiné avec le paquet SEM permet aux utilisateurs de collecter instantanément des informations complètes et élémentaires simultanées avec une ultra haute résolution pour l'analyse élémentaire et la cartographie élémentaire. Le WFS est équipé d'un spectromètre ultra-rapide innovant qui permet l'acquisition rapide d'informations de diffraction du spectre et des rayons X à partir du même plan. En outre, l'instrument est pré-programmé avec un large éventail de matériaux, tandis que le détecteur de rayonnement fournit une excellente résolution d'image avec des signaux de rayons X acquis jusqu'à 12kV avec des informations de référence stockées pour chaque cycle d'imagerie. L'environnement logiciel de JEOL 840 est optimisé pour une imagerie et une analyse de données rapides et fiables. Il comprend une interface d'imagerie conviviale qui comprend une gamme de techniques puissantes d'imagerie reconstructive IQ et 3D. En plus de ces techniques d'imagerie, l'interface tactile permet également le transfert rapide d'images et l'exportation d'ensembles de données avec une excellente fiabilité de l'information. Dans l'ensemble, 840 est une technologie d'imagerie avancée qui combine le meilleur des paquets SEM modernes avec l'optique électronique ultime et les capacités WFS. Il fournit une analyse rapide et fiable des images et des éléments, une excellente résolution d'image et des images de contraste élevé avec des niveaux de bruit extrêmement bas. Idéal pour les applications d'imagerie de routine et sophistiquées, JEOL 840 est le compagnon idéal pour les chercheurs qui cherchent à obtenir les meilleures performances en microscopie électronique.