Occasion JEOL 840A #9157331 à vendre en France

JEOL 840A est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé dans de nombreuses applications de la science des matériaux et de l'industrie. Il dispose d'un équipement intermédiaire à trois faisceaux sous vide composé d'un faisceau d'ions focalisés (FIB), d'électrons secondaires (SE) et de détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB). L'analyse SEM produit des images haute résolution à des grossissements allant jusqu'à 100.000x. De plus, les images SEM sont capables de rendre la morphologie de surface, les concentrations élémentaires ou la structure cristalline. 840A est conçu avec une configuration S/TEM (microscope électronique à balayage/transmission) à double colonne pour la polyvalence. Cela permet l'imagerie haute résolution d'échantillons transparents d'électrons, ainsi que l'imagerie électronique à balayage classique. La grande chambre à vide intermédiaire est compatible avec les sources d'émission du champ gazeux et du champ thermique et comporte plusieurs conduites de gaz et lignes d'entrée pour le mode SE et ESB. En outre, JEOL 840A offre une fonction d'imagerie FIB préparée en option entièrement automatisée, permettant d'acquérir des images transparentes aux électrons et des échantillons préparés en FIB pour l'imagerie SEM. 840A offre des fonctionnalités avancées telles que la mesure de l'épaisseur et de la composition des films sur l'axe et hors de l'axe, un système de reconnaissance automatique par balayage d'échantillons, des détecteurs annulaires, un fonctionnement à pression variable et des capacités de simulation d'images numériques. Plusieurs des caractéristiques avancées du SEM permettent une analyse quantitative de la structure des échantillons. L'unité de mesure sur axe mesure l'épaisseur du matériau pendant l'imagerie en temps réel, tandis que le détecteur hors axe mesure la composition élémentaire de l'échantillon à une vitesse d'échantillonnage accélérée. En outre, le SEM fournit l'enregistrement automatisé des images et la fonction de balayage automatique pour l'analyse des échantillons mains libres. JEOL 840A utilise une machine et un logiciel de traitement d'image pour numériser, stocker, traiter et stocker les données d'analyse SEM. En outre, l'outil offre de brillantes capacités de post-traitement, y compris le traitement des mesures, la cartographie des éléments, la cartographie des couches, le traitement des images et la reconstruction 3D. En conclusion, 840A est un microscope électronique à balayage de pointe polyvalent capable d'imagerie haute résolution et de fonctionnalités avancées. Il est capable de fournir une analyse détaillée de surface et élémentaire d'un large éventail d'échantillons, et est adapté à une variété d'applications de la science industrielle et des matériaux.