Occasion JEOL 845A #9157332 à vendre en France

JEOL 845A est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'une grande variété de matériaux. Il utilise un détecteur à rayons X dispersif d'énergie (EDS) et un détecteur d'électrons secondaire à haute résolution (SE) pour fournir des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures. Les SEM tels que 845A permettent aux chercheurs d'acquérir diverses informations, comme la composition chimique, la granulométrie, la topographie de surface et la phase cristalline. JEOL 845A utilise un filament de tungstène avec une pression maximale de faisceau de 3 nA, permettant une imagerie à très haute résolution. Son système de balayage par faisceau haute tension permet une acquisition rapide d'images, et la distance de travail réglable du porte-spécimen permet une plus grande flexibilité dans les grands échantillons. 845A est équipé d'un détecteur d'électrons à rétrodiffusion alpha (ESB) qui détecte et cartographie la micro-topographie de surface d'un échantillon et permet de différencier les matériaux en fonction de leur composition. JEOL 845A est livré avec un détecteur de rayons X dispersif d'énergie (EDS) qui permet l'analyse élémentaire d'un échantillon. Son fonctionnement à basse dépression lui permet d'analyser les matériaux non conducteurs à un grossissement plus élevé que les autres SEM. Le détecteur EDS fournit des informations supplémentaires sur la composition et la distribution des constituants de l'échantillon et peut être utilisé pour déterminer les fractions de phase, identifier les oligo-éléments ou déterminer la distribution granulométrique. 845A offre un traitement rapide du signal et l'acquisition d'images, ce qui le rend adapté à des échantillons difficiles à manipuler qui nécessitent une imagerie très détaillée. Il est équipé d'un système automatisé d'alignement et de correction d'alignement, et est livré de série avec un contrôleur de grossissement puissant qui permet une focalisation précise de l'échantillon sans intervention manuelle. De plus, l'utilisateur final peut ajuster d'autres paramètres tels que la tension et le courant pour optimiser la qualité de l'image et la force du signal. Dans l'ensemble, JEOL 845A offre un large éventail de fonctionnalités et de capacités qui en font un excellent choix pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'une variété de matériaux échantillons. Sa capacité à saisir une variété d'informations d'échantillons avec un détecteur EDS optionnel en fait un outil puissant pour les chercheurs à la recherche de résultats d'analyse détaillés.