Occasion JEOL ARM 200 F #9160516 à vendre en France

JEOL ARM 200 F Scanning Electron Microscope (SEM) offre des capacités d'imagerie supérieures pour les travaux de laboratoire et la recherche de routine. L'équipement haute performance, avec une résolution de 5 nm dans toutes les directions, est parfait pour l'imagerie des matières organiques et inorganiques. L'instrument est bien adapté à un large éventail d'applications, y compris la cristallographie, l'analyse des défaillances, l'imagerie des matériaux et leurs propriétés physiques et chimiques. Le système comprend un détecteur d'électrons secondaires gazeux (G-SE) pour l'imagerie 3D vraie, une source d'ions pour la microanalyse EDS, et un grand détecteur de fond bas pour maximiser le contraste des caractéristiques ultra-fines de surface. ARM 200 F SEM offre un environnement sous vide et une large gamme de grossissements de 8x à 500.000x. Il est également équipé d'un canon à double électron pour une stabilité et un contrôle supérieurs du faisceau. Les fonctionnalités avancées de la machine comprennent une technologie brevetée de faisceau ionique concentré pour la création de sections transversales d'échantillons. Il est également équipé d'un outil de correction de sonde pour assurer la meilleure qualité d'image possible. De plus, l'actif fournit un fonctionnement automatisé, un contrôle informatique et une gamme d'accessoires tels qu'un étage de grande élévation pour l'analyse d'échantillons de plus grande taille et un modèle d'imagerie numérique pour l'analyse et la comparaison d'échantillons. Le puissant JEOL ARM 200 F SEM est un outil fiable pour la communauté de microscopie électronique. Il offre d'excellentes performances pour des exigences d'imagerie et d'analyse sophistiquées à un prix abordable. L'équipement est convivial et fournit une interface utilisateur intuitive et intuitive. La structure robuste et fiable offre une excellente durabilité, garantissant que le système continuera à offrir des résultats fiables et précis longtemps à l'avenir.