Occasion JEOL ARM200CF Super X #9274124 à vendre en France

JEOL ARM200CF Super X Scanning Electron Microscope (SEM) est l'un des microscopes électroniques à balayage les plus avancés sur le marché aujourd'hui. Il est idéal pour les applications dans la science des matériaux, l'analyse des matériaux et la recherche médicale. Le système offre une imagerie haute résolution jusqu'à 200kV, à l'aide d'une lentille de condenseur, et permet de connecter simultanément jusqu'à quatre porte-échantillons. ARM200CF Super X SEM dispose d'un mécanisme de contrôle de profondeur de focalisation supérieure (DOF) pour fournir une profondeur de champ étendue, en gardant les images dans le plan de focalisation sans l'utilisation de multiples conditions d'imagerie. Il dispose également d'une technologie unique FEG (Field Emission Gun) qui fournit un rapport signal/bruit supérieur permettant une imagerie à plus haute résolution que les SEM traditionnels. La technologie FEG permet également un balayage plus rapide pour améliorer le débit. De plus, JEOL ARM200CF Super X SEM utilise la technologie avancée d'imagerie électronique secondaire (SEM PED) pour limiter la contamination des échantillons provenant de l'interface entre la source d'électrons et l'échantillon. La résolution et le détail améliorés de cette méthode d'imagerie topographique sont améliorés par l'utilisation de la détection électronique secondaire ainsi que des techniques analytiques telles que XEDS, ESP et Crystal Orientation Mapping. ARM200CF Super X SEM fournit également une gamme de fonctionnalités conviviales, y compris l'analyse automatisée des plaquettes et la programmation routine/semi-automatique ainsi qu'un système d'autofocus pour le positionnement des échantillons et le fonctionnement exact. Les performances supérieures et les fonctionnalités conviviales de ce SEM en font le choix idéal pour les applications d'imagerie exigeantes.