Occasion JEOL ARM200CF Super X #9293905 à vendre en France

JEOL ARM200CF est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu avec des capacités analytiques avancées. Il dispose d'une caméra CCD en silicium polycristallin monolithique haute résolution pour l'imagerie haute sensibilité et d'un canon à émission de champ Schottky haute intensité (FEG) pour l'imagerie haute résolution. Ce microscope électronique est capable de capturer des images très détaillées de même de petits spécimens à des niveaux de grossissement extrêmement élevés. Le ARM200CF est basé sur une colonne de pression variable (VP) et dispose de la technologie d'imagerie QuickScan SuperX, qui fournit des images supérieures avec des vitesses de balayage plus rapides que d'autres technologies. La colonne utilise également un scanner à conduite rapide, offrant une meilleure résolution, un contraste amélioré et un traitement plus rapide pour l'imagerie en temps réel. La conception de la colonne est basée sur un système optique inversé, ce qui permet de réduire les coûts de fonctionnement et d'améliorer la résolution de balayage. Le ARM200CF dispose également d'une étape d'échantillonnage automatisée intégrée pour un fonctionnement facile, avec un contrôle de température pour la préparation répétable de l'échantillon pour des résultats cohérents. La vitesse de balayage rapide et le faible coût de fonctionnement font de ce modèle idéal pour les tâches à haut débit, telles que la métallographie avancée, la recherche sur les matériaux, l'analyse des défaillances et la mesure dimensionnelle. Le puissant logiciel d'imagerie facilite également la collecte rapide de données avec l'acquisition d'images à grande vitesse et l'intégration au logiciel de laboratoire. Le ARM200CF est également équipé de capacités d'imagerie avancées telles qu'un filtre secondaire de suppression d'électrons (SESF), image électronique rétrodiffusée (ESB) et image de contraste de diffraction (DCI). Le SESF est utilisé pour détecter les caractéristiques de faible contraste et supprimer les champs électrostatiques, tandis que l'image ESB révèle les caractéristiques de surface de l'échantillon et l'image DCI améliore les réseaux cristallins. JEOL ARM200CF est un microscope électronique haut de gamme et fiable, offrant des performances supérieures et des capacités analytiques avancées dans un système compact. Ses capacités d'imagerie haute résolution, ses vitesses de balayage rapides, ses faibles coûts de fonctionnement et ses étages d'échantillons flexibles le rendent idéal pour un large éventail d'applications.