Occasion JEOL BX-MWC1002T93 #9282256 à vendre en France

JEOL BX-MWC1002T93 est un microscope électronique à balayage à double faisceau (SEM) qui offre un équipement tout-en-un de haute qualité pour des applications de recherche en chimie et en matériaux. Ses capacités d'imagerie haute résolution fournissent aux chercheurs des images détaillées des structures de divers matériaux. Il a une plage de grossissement allant jusqu'à 150 000 x, ce qui le rend idéal pour visualiser des détails minutieux des échantillons. Ses caractéristiques hautes performances comprennent une colonne optique à électrons inversés avec un étage magnétiquement levé pour une manipulation supérieure des échantillons, une capacité de balayage à pression variable pour créer des conditions d'imagerie optimales, et une résolution allant jusqu'à 0,4 nanomètres. Les fonctions d'automatisation permettent d'obtenir des résultats cohérents en optimisant les conditions d'imagerie pour tout échantillon provenant d'un large éventail de matériaux. BX-MWC1002T93 est équipé d'un système avancé de dispersion de l'énergie des rayons X (XEDS) pour l'analyse élémentaire des échantillons. L'unité permet aux utilisateurs d'identifier et de quantifier la composition élémentaire des échantillons, ainsi que d'obtenir des informations détaillées sur la structure de l'échantillon à différents grossissements. Le SEM intègre également une optique électronique de grande puissance qui permet aux utilisateurs de se concentrer sur différentes zones de l'échantillon dans le même champ de vision, ce qui en fait un choix idéal pour l'imagerie de caractéristiques et de structures complexes. En outre, la machine dispose d'un outil breveté nanofocalisant qui permet l'imagerie de haut grossissement sans dégrader la qualité de l'image. L'actif est facile à installer et convivial, et comprend une variété d'outils d'imagerie et d'analyse pour personnaliser en fonction des besoins individuels. En outre, il comprend une analyse intelligente et automatisée des échantillons pour une acquisition rapide et facile des données, même pour les échantillons difficiles. Dans l'ensemble, JEOL BX-MWC1002T93 est un microscope électronique à balayage idéal pour des études détaillées des matériaux et de leurs structures. Ses caractéristiques le rendent idéal non seulement pour les applications de recherche en matériaux et en chimie, mais aussi pour les applications biologiques et industrielles. Ses capacités d'imagerie haute résolution permettent aux utilisateurs d'observer la structure des matériaux à différents grossissements, et ses caractéristiques d'analyse avancées fournissent des résultats détaillés des niveaux micro et nanoscopiques.