Occasion JEOL BX-WAC300B93 #9282276 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL BX-WAC300B93 (SEM) est un équipement SEM à haut niveau de performance qui permet l'observation et l'analyse de divers matériaux dans un large éventail d'environnements. Ce modèle combine une optique électronique avancée avec une tension d'accélération 300kV pour l'imagerie fiable d'une variété d'objets. Il est capable d'imagerie à une résolution de 0,7 nm et peut atteindre des grossissements allant jusqu'à 100 000 x, ce qui le rend idéal pour visualiser de petites caractéristiques sur des spécimens. BX-WAC300B93 dispose d'un large choix de fonctionnalités permettant l'imagerie haute résolution, telles qu'un écran LCD numérique, le courant de faisceau réglable, et la pression variable d'émission de champ froid (CEF) optique électronique. L'optique électronique CEF empêche les particules indésirables d'entrer dans la colonne et provoque la contamination, donnant une meilleure clarté d'image. JEOL BX-WAC300B93 dispose également d'un système de focalisation grossière et fine pour faciliter la manipulation du courant du faisceau ultrafin, permettant une analyse plus précise des échantillons. En outre, le microscope a un stigmate motorisé, qui aide à améliorer la résolution de l'image et améliore le contraste. Pour plus de précision, BX-WAC300B93 dispose d'une unité d'imagerie de fond automatisée, qui peut analyser avec précision les caractéristiques du fond de l'échantillon. JEOL BX-WAC300B93 est équipé d'une machine de commande d'étage unique et peut être utilisé pour l'image de différents échantillons en utilisant une variété de techniques, y compris la microscopie électronique à balayage (SEM), la microscopie électronique à basse tension, et les modes de grossissement d'image. De plus, cet outil comprend divers porte-spécimens, tels qu'un porte-spécimen TEM, un porte-talon et un porte-RBS. L'actif de contrôle d'étage peut également être utilisé pour déplacer des sections de l'échantillon et peut être actionné manuellement ou automatiquement. De plus, ce modèle dispose d'une fonction de focalisation automatique pour une analyse plus fine du spécimen. BX-WAC300B93 offre un large éventail d'options de préparation d'échantillons pour l'imagerie, y compris le polissage mécanique, le revêtement des pulvérisateurs, les techniques de refroidissement cryo et froid, et diverses autres techniques de nettoyage. Le microscope peut être utilisé pour observer des échantillons métalliques, inorganiques, organiques et cristallins avec une préparation minimale d'échantillons. En plus de ses capacités d'imagerie avancées, JEOL BX-WAC300B93 dispose également de plusieurs logiciels pour la collecte et l'analyse de données. Ces logiciels comprennent le logiciel SEIMAGER pour l'analyse des particules, le logiciel ADELM pour l'analyse des contrastes différentiels et le logiciel CORCON pour le traitement automatisé des signaux. Ces programmes permettent le fonctionnement et l'analyse des données du microscope de manière efficace. De plus, ce microscope est équipé d'un équipement d'archives numériques, qui permet aux utilisateurs de sauvegarder toutes les images et données capturées lors d'une session d'analyse. BX-WAC300B93 Scanning Electron Microscope est un puissant système d'analyse polyvalent qui est idéal pour examiner une variété de matériaux et d'objets dans un large éventail d'environnements. Son optique électronique de pointe, combinée à une multitude de fonctionnalités automatisées et de logiciels, assure une imagerie fiable et précise des objets de grande et de petite taille. Ce modèle offre une excellente plate-forme pour l'analyse d'une gamme d'échantillons, des métaux aux matériaux organiques.