Occasion JEOL BZG-70CTSCLPL #9282274 à vendre en France

JEOL BZG-70CTSCLPL
ID: 9282274
Taille de la plaquette: 5"
Scalpel mask, 5" Type: Membrane.
JEOL BZG-70CTSCLPL est un microscope électronique à balayage (SEM) idéal pour les applications de la science des matériaux et de l'ingénierie. Ce SEM dispose d'une imagerie ultra haute résolution dans un design compact et convivial avec de faibles exigences de maintenance. BZG-70CTSCLPL dispose d'un canon à émission de champ sans fil (FEG) de haute luminosité combiné à une chambre d'échantillonnage à ultra-faible vibration pour l'imagerie supérieure. Cette configuration minimise la divergence du faisceau d'électrons tout en produisant des images à ultra haute résolution. La chambre d'échantillonnage DEL à pression variable permet de faire varier le courant du faisceau d'électrons sur une large plage, ce qui permet de cartographier avec précision les caractéristiques de l'échantillon. JEOL BZG-70CTSCLPL est livré avec un grand champ de vision et des performances globales élevées. Il a une large distance de travail de 12,7 mm et une résolution d'image de 0,8 nm, ce qui le rend parfait pour l'imagerie de minuscules caractéristiques à la fois en topographie et composition chimique. Il a un faible taux de bruit détective et une dynamique minimale de 1000:1, permettant aux utilisateurs de détecter de petites concentrations de l'échantillon. BZG-70CTSCLPL est idéal pour l'imagerie d'échantillons délicats tels que biomatériaux, céramiques, polymères et nano-matériaux. Il fonctionne également bien pour la reconstruction 3D et a la capacité de transférer des données dans des formats de fichiers plus élevés. L'imagerie haute définition est disponible avec le fort contraste et le faible niveau de bruit. JEOL BZG-70CTSCLPL est conçu pour fonctionner dans un environnement automatisé. L'étape de l'échantillon peut être automatisée pour compenser rapidement le mouvement de l'échantillon et les points de localisation répétables. Le système peut être exploité par l'intermédiaire d'une interface Ethernet ou bus vers des ordinateurs externes pendant les opérations de numérisation, ce qui permet d'effectuer différentes opérations simultanément. BZG-70CTSCLPL est un microscope électronique à balayage fiable avec des fonctionnalités conviviales pour analyser les matériaux avec précision. Ses faibles exigences de maintenance, sa large gamme dynamique d'imagerie et son mode à vide réduit en font un choix parfait pour les applications nécessitant une capacité d'imagerie exceptionnelle.
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