Occasion JEOL BZG-72WCST8H #9282258 à vendre en France

JEOL BZG-72WCST8H est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe doté d'une source d'électrons à émission de champ (FEG). Ce SEM offre une véritable imagerie basse dépression avec un vide de travail de 2,0 Pa, offrant un champ de vision réaliste avec une excellente résolution et une imagerie de haute qualité. Le canon a une longue durée de vie et fonctionne à une résolution étonnamment élevée de 1,4 nm. Le SEM est fabriqué avec un nouveau système breveté de déviation qui intègre un blanker de faisceau de gaz réactif à grande vitesse et ses éléments mécaniques associés pour une imagerie optimale. Cette fonctionnalité fournit un bruit de courant sombre ultra-faible et un balayage à haute vitesse du faisceau d'électrons pour capturer les détails les plus fins ainsi que réduire le risque de dommages à l'échantillon. Le SEM dispose d'un système intégré de décélération du faisceau pour les images de champ lumineux et la correction de la distorsion de balayage du faisceau pour améliorer le contraste de l'image et la résolution des détails. La correction intégrée au deuxième ordre à l'ouverture de la colonne permet une haute résolution spatiale et une fonction d'étalement ponctuel uniforme (FSP) sur toute la zone d'imagerie. Grâce à son balayage rapide du faisceau d'électrons, BZG-72WCST8H permet de réduire les artefacts et le bruit dans les images. La capacité de filtre d'énergie et d'analyse dans la colonne du SEM donne une capacité d'analyse des éléments dépassant ce qui est réalisable avec d'autres systèmes. Sa capacité haute performance WDS/EDS est renforcée par un détecteur matriciel à haut courant et un logiciel sophistiqué, offrant l'identification d'éléments chimiques et l'analyse quantitative de différents éléments présents dans une image SEM. Le logiciel permet un fonctionnement convivial pour un déploiement et un fonctionnement faciles. Il est conçu pour fonctionner avec plusieurs accessoires au fil du temps, tels qu'un détecteur d'ESB, bobine RF, détecteur In-lens, détecteur SE, et EBSD. JEOL BZG-72WCST8H est un équipement idéal pour diverses applications en laboratoire. Ses capacités d'imagerie haute résolution permettent une grande variété de recherches, telles que la science des matériaux, les inspections au niveau des plaquettes semi-conductrices, les applications nanotechnologiques, l'analyse des défaillances et bien d'autres. Sa flexibilité et sa facilité d'utilisation le rendent adapté à presque toutes les exigences de recherche.