Occasion JEOL BZG-73WCST6H #9282405 à vendre en France

JEOL BZG-73WCST6H est un microscope électronique à balayage de pointe qui a des performances supérieures par rapport aux autres SEM sur le marché. Il intègre un détecteur OneView Lense et un détecteur SR haute performance, tous deux bien connus pour leur capacité avancée de capture et d'analyse d'images. En tant que tel, cet instrument est idéal pour des applications telles que la lithographie de faisceaux d'électrons, la nanolithographie et la microfabrication. La source de canon à émission de champ (FEG) sur BZG-73WCST6H est l'une des plus avancées et puissantes sur le marché. Cette FEG offre une densité de courant élevée, un plancher sonore faible et une faible instabilité du faisceau afin de faciliter l'imagerie précise avec des distractions minimales. De plus, il a une capacité d'effacement de faisceau, permettant à l'utilisateur de mesurer et d'analyser avec précision les distributions relatives du courant d'émission. La capacité d'effectuer de telles opérations rapidement et avec précision rend cet instrument idéal pour l'analyse avancée des matériaux. JEOL BZG-73WCST6H dispose également d'une variété d'étapes de préparation d'échantillons, allant du revêtement classique colloïdal en or, revêtement en phase vapeur en carbone, à la fracturation par gel, qui sont tous utilisés pour améliorer la précision de l'imagerie. De plus, le canon à électrons peut être intégré à un détecteur de charge, permettant à l'utilisateur d'analyser avec précision les caractéristiques de champ électrique local de l'échantillon. BZG-73WCST6H offre une résolution supérieure grâce à son équipement d'objectif 60kV ReFocus Gun. Ce système est associé à une plate-forme d'image pour optimiser le rapport signal/bruit et la qualité d'image. Il dispose également d'une unité EDS intégrée avec un détecteur à haute sensibilité, permettant une analyse précise et précise de la composition élémentaire. Un détecteur de champ lumineux est également inclus, offrant le contraste et la profondeur de l'amélioration du champ. JEOL BZG-73WCST6H dispose également d'une suite logicielle conçue pour optimiser l'efficacité et la précision de l'imagerie SEM. Cette machine comprend un logiciel d'imagerie 3D complet pour la construction rapide et précise de modèles tridimensionnels de structures microscopiques. Il comprend également des programmes d'analyse avancés pour faciliter l'analyse topographique, la cartographie élémentaire et l'analyse granulométrique. Tous les traits sur l'instrument BZG-73WCST6H le rendent un choix exceptionnel tant pour la recherche que pour les applications industrielles. Sa source FEG avancée, son large éventail d'étapes de préparation d'échantillons et ses programmes d'analyse puissants se combinent pour en faire un choix idéal pour ceux qui recherchent des capacités d'imagerie supérieures.