Occasion JEOL BZG-75MST4H #9282264 à vendre en France

JEOL BZG-75MST4H est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) haut de gamme pour des applications avancées d'analyse de faisceaux d'ions. Il dispose d'un courant de crête de 150 mA/cm2 et d'une résolution énergétique de 0,07 eV. BZG-75MST4H dispose d'un équipement qui peut traiter des échantillons ultra-minces de 2,5 microns. Ses manipulateurs étendus peuvent fournir des capacités d'étape pour des échantillons dans une variété d'orientations. Supplémentairement, JEOL BZG-75MST4H peut découvrir le photomultiplicateur et les détecteurs thermoélectriquement refroidits. BZG-75MST4H convient à toute une gamme d'utilisations scientifiques et industrielles, allant des tests standard de microscopie électronique aux analyses complexes et à la recherche sur les matériaux. Il offre des niveaux de résolution améliorés et peut être utilisé pour examiner de nombreuses caractéristiques de matériaux hautement spécialisés, avec une grande précision. JEOL BZG-75MST4H est alimenté par un système de traitement d'image numérique avancé, qui permet aux utilisateurs de capturer des images très détaillées à des grossissements extrêmes. Les données d'images numériques peuvent être collectées et analysées, ce qui permet d'optimiser les flux de travail et les expériences. Ce microscope dispose également d'une chambre de visualisation en quartz à ultoréflection unique, conçue pour minimiser les distorsions ou les erreurs de signal dans le processus d'imagerie. BZG-75MST4H est capable d'effectuer une variété de techniques d'analyse de surface, y compris l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée et la cartographie des rayons X. Le SEM est également capable d'effectuer des analyses chimiques d'échantillons tels que EDX, EDL, EDS et TXM. Le microscope dispose également de plusieurs dispositifs de sécurité intégrés, tels qu'un interrupteur d'arrêt haute tension, qui peut prévenir les erreurs ou les accidents. L'unité est également livrée avec plusieurs fonctionnalités de commodité, comme la possibilité d'attribuer des scans définis par l'utilisateur et des séquences de capture d'image. JEOL BZG-75MST4H est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour des applications de recherche et à usage industriel. Il utilise une machine optique unique pour améliorer la résolution et la qualité d'image. Ce SEM offre des fonctionnalités et des capacités pour des applications avancées, telles que l'analyse de surface, l'imagerie et la recherche matérielle. Ses nombreuses caractéristiques de sécurité et de commodité font de BZG-75MST4H un SEM puissant et fiable pour toute recherche ou utilisation industrielle.