Occasion JEOL BZG-75MST4H #9282265 à vendre en France

JEOL BZG-75MST4H
ID: 9282265
Taille de la plaquette: 5"
Square mask, 5".
JEOL BZG-75MST4H est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui est adapté à une gamme d'applications dans toutes les applications industrielles et de recherche. Il s'agit d'un microscope électronique réglable qui convient principalement pour des applications à moyenne tension dans lesquelles l'échantillon doit être étudié à haute résolution et précision. Les principaux composants de BZG-75MST4H comprennent un canon à émission de champ (FEG), un scintillateur, une pièce polaire à électrons, des commandes d'étage et un ensemble d'alimentation à haute tension. La FEG est utilisée pour créer un faisceau d'électrons à partir de l'échantillon à étudier. Le scintillateur permet la détection d'électrons réfléchis pour que l'image produite puisse être observée visuellement. La pièce polaire électronique est utilisée pour dévier et focaliser le faisceau d'électrons sur l'échantillon, ainsi que fournir une zone sans champ pour la collecte d'électrons rétrodiffusés. Les commandes d'étage permettent l'alignement de l'échantillon et la rotation de l'échantillon. JEOL BZG-75MST4H est accompagné d'un équipement de transfert motorisé intégré pour l'échange automatisé d'échantillons et l'augmentation de la productivité. Le système comprend JEOL Controller IV ou la jauge TE exploitée par l'intermédiaire de sa propre unité de menu. La machine fournit également différents modes d'imagerie pour l'utilisateur selon la nature de l'échantillon étudié tels que le mode électronique rétrodiffuseur (ESB), le mode électronique secondaire (SE), le mode EFTEM, etc... BZG-75MST4H est un SEM haute résolution qui produit des images de haute qualité. Les images acquises présentent plusieurs caractéristiques utiles telles que la composition d'images, la capture d'images et le stockage d'images. Le logiciel qui accompagne l'outil SEM offre des fonctionnalités supplémentaires telles que la possibilité d'analyser des données, le traitement d'images, les reconstructions 3D et plus encore. En outre, le SEM dispose de diverses capacités telles que l'imagerie haute résolution, le contrôle de focalisation et d'ouverture, le fonctionnement convivial, les mesures de spectre, la spectroscopie et l'imagerie et le traitement automatisés. JEOL BZG-75MST4H est un microscope électronique à balayage efficace qui peut être utilisé pour toute une gamme d'applications, y compris les études de surface, les évaluations de la composition élémentaire, les études de défaillance, la microanalyse et plus encore. Il est également adapté à une gamme d'études industrielles et scientifiques, ce qui en fait un outil inestimable dans le monde de l'exploration industrielle et scientifique.
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