Occasion JEOL FV 6300 #9259836 à vendre en France

JEOL FV 6300 est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de fournir une performance de haut de gamme pour une variété d'applications d'imagerie. L'instrument offre une résolution et un contraste inégalés à l'échelle nanométrique. Il dispose d'un étage de commande à cinq axes, permettant une imagerie sur mesure en fonction de l'environnement spécifique de l'utilisateur. En outre, l'objectif haute résolution permet des analyses détaillées de petites caractéristiques, et il est capable de fonctionner dans un environnement ultra-haut vide pour minimiser la diffusion électronique. FV 6300 fournit également une gamme de modes de fonctionnement dépendant de l'environnement, y compris la pression variable, le vide bas, le vide élevé et le cryo-SEM. Grâce à une optique de prisme innovante, les utilisateurs peuvent acquérir des images de qualité même dans des environnements difficiles. L'optique vari-zoom de haute précision permet des réglages plus rapides de la taille des pixels et des détails d'imagerie à un grossissement plus élevé. De plus, l'instrument est intégré à un équipement de correction de distorsion élevée, ce qui permet d'améliorer la précision et la cohérence de l'imagerie. Le système assure un fonctionnement continu avec de multiples microscopes pour des projets de grande envergure. Il dispose également d'une unité en boucle fermée qui étend la profondeur de champ afin de mesurer plus précisément les objets. JEOL FV 6300 est également équipé d'une machine d'imagerie et d'analyse numérique, permettant aux utilisateurs de traiter rapidement et facilement des images et de mesurer des échantillons. Il est également livré avec une large gamme de fonctionnalités telles que la création de modèles 3D, la capture d'image robotique, l'acquisition d'image lisse, et le contrôle programmable. En outre, l'instrument supporte également le fonctionnement automatisé et offre une excellente sécurité des données. En conclusion, FV 6300 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour répondre à la réglementation en matière de sécurité industrielle tout en offrant des capacités et des performances d'imagerie supérieures à l'échelle nanométrique. C'est un instrument idéal pour ceux qui recherchent un outil d'imagerie haut de gamme pour faciliter leurs efforts de recherche et de développement.