Occasion JEOL GC-310C/F #9384533 à vendre en France

JEOL GC-310C/F est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie moléculaire, l'analyse élémentaire et la mesure de la taille des matériaux nanométriques. Sa haute résolution spatiale lui permet d'atteindre le plus haut niveau de détail dans des échantillons aussi petits que 10nm. Le système utilise à la fois une source d'émission à pression variable et une source d'émission en champ froid (GPFC) pour son examen et son analyse des échantillons. Le microscope dispose d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire, qui fournit aux utilisateurs une caractérisation élémentaire rapide et fiable dans une variété de matériaux. Il dispose également d'une source d'imagerie spectrale dédiée (SIS) pour l'imagerie spectrale, permettant une cartographie détaillée des différentes phases matérielles. Le GC-310C/F comprend un HiGSD, qui permet aux utilisateurs d'ajuster manuellement le signal de rétrodiffusion de l'appareil pour plus de détails. Le SEM est spécialement conçu pour offrir une stabilité exceptionnelle et une imagerie précise, même dans l'environnement des canons à émission de champ. Il utilise une conception de blindage unique qui aide à réduire les courants de faisceau élevé et les dommages d'échantillon. Le GC-310C/F comprend également un système de caméra intégré qui capture des images à grande vitesse, et avec un système de balayage A intégré, les utilisateurs peuvent facilement mesurer l'épaisseur des échantillons pendant qu'ils les analysent. Le SEM est conçu pour être économe en énergie et profiter de coûts d'énergie plus faibles. Il est également suffisamment léger pour être transporté à différents endroits pour être testé sur place. Pour les laboratoires qui possèdent déjà l'expertise et l'équipement nécessaires, le processus d'installation est simple et simple. JEOL GC-310C/F a diverses applications, notamment la recherche sur les matériaux, la fabrication et le développement de semi-conducteurs, la synthèse de nanomatériaux, l'analyse de couches minces, l'analyse de surface et interfaciale, et les tests de performance des appareils. Dans l'ensemble, JEOL GC-310C/F est un SEM puissant et polyvalent avec une variété de fonctionnalités, ce qui en fait un choix idéal pour tout laboratoire.