Occasion JEOL / HOLON EMU 220A #192375 à vendre en France

JEOL / HOLON EMU 220A
ID: 192375
CD SEM for mask Stage laser needs replacement Gun needs PM.
JEOL/HOLON EMU 220A est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise un faisceau d'électrons pour produire des images d'échantillons à haute résolution. C'est un modèle de haute performance qui offre une gamme de résolution de 10-45nm, ce qui en fait un choix idéal pour une utilisation dans les domaines des systèmes microélectroniques et microélectromécaniques (MEMS). JEOL EMU 220A dispose d'un puissant équipement de spectrométrie à rayons X (EDX) dispersive d'énergie, qui permet l'analyse élémentaire des échantillons. Il est également équipé d'un système de compensation de pression et de charge variable (VPC) qui aide à améliorer la résolution de contraste des images. Ce SEM offre un grand champ de vision (FOV) pouvant atteindre 237mm, ainsi qu'un mode de balayage à pression variable (VP) unique qui améliore le contraste des échantillons d'imagerie pour les applications tridimensionnelles (3D). En outre, HOLON EMU 220A dispose de modes à vide faible et à vide élevé qui permettent une plus grande flexibilité dans l'imagerie d'échantillons délicats et complexes. L'UEM 220A dispose également d'une unité d'imagerie numérique haute résolution qui utilise la technologie CCD pour fournir une résolution d'image jusqu'à 5,3 µm, ce qui la rend capable de capturer des détails complexes et des microstructures avec une extrême clarté. Il dispose également d'une machine à étages automatisée spécialisée qui permet une manipulation précise de l'échantillon, permettant la meilleure orientation possible des échantillons pour une résolution de détail maximale de l'image. Cet outil automatisé est également facilement mobile, ce qui lui permet d'être utilisé avec une variété de porte-spécimens. JEOL/HOLON EMU 220A dispose en outre d'une fonction de cartographie EDS qui permet l'imagerie et l'analyse d'éléments sur les surfaces de l'échantillon, fournissant des informations importantes pour l'analyse métallurgique. En conclusion, JEOL EMU 220A est un microscope électronique à balayage incroyablement puissant et polyvalent qui est idéal pour une utilisation dans les domaines microélectronique et MEMS. Il dispose d'un atout d'imagerie numérique haute résolution, d'un mode de balayage à pression variable (VP), d'une plage de résolution de 10 à 45nm, d'un modèle d'étage automatisé et d'un équipement de cartographie EDS, qui font de HOLON EMU 220A un excellent choix pour toute application de microscopie électronique.
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