Occasion JEOL / HOLON EMU 220A #9352072 à vendre en France
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JEOL/HOLON EMU 220A est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe doté d'une large gamme de capacités analytiques. Il est capable d'imager jusqu'à une résolution de 1.4nm et une plage de grossissement allant jusqu'à 450kX. JEOL EMU 220A utilise une pression réduite unique à plusieurs étages, en introduisant un vide élevé au niveau du canon à électrons qui augmente la résolution d'imagerie. L'électronique embarquée permet au microscope d'obtenir un contraste et une résolution exceptionnels même à basse tension d'accélération, garantissant des images de haute qualité à n'importe quelle tension. HOLON EMU 220A est équipé d'une multitude d'optiques électroniques avancées, y compris des détecteurs d'état solide pour l'imagerie haute résolution, un déflecteur à trois quadrants pour le positionnement précis du faisceau d'électrons, et un canon à fort courant, très stable avec une distance source-objet optimale qui élimine l'astigmatisme et améliore la qualité d'image. Les détecteurs de rayons X dispersifs énergétiques (EDX) permettent à ce SEM d'analyser la composition élémentaire de l'échantillon. Un cryo-étage offre une meilleure résolution d'image et la reconnaissance des échantillons, tandis que la haute stabilité et le fonctionnement à basse température en font le choix idéal pour les applications d'imagerie sensibles. L'UEM 220A est également dotée d'une gamme de capacités d'acquisition et d'analyse de données. Son logiciel permet la capture, le traitement et l'analyse d'images avec un outil d'analyse point à point. Avec JEOL/HOLON EMU 220A, les utilisateurs peuvent programmer l'acquisition automatisée de modèles et la reconnaissance de modèles à l'aide de sa vaste gamme d'outils d'acquisition et d'analyse de données. Ce microscope intègre également des techniques avancées d'analyse de surface, d'analyse des particules et de tomographie. C'est le choix idéal pour les chercheurs dans divers domaines, en particulier ceux qui nécessitent une imagerie et une analyse à haute résolution.
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