Occasion JEOL HT Tank for JEM 100CX II #293794297 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 100CX-II (SEM) est un système unique qui combine des capacités d'imagerie avancées et des performances analytiques exceptionnelles offrant une imagerie haute résolution et une microanalyse aux rayons X exceptionnelles. Ce SEM de pointe est adapté aux applications liées à la recherche et à l'industrie. Le MJE 100CX-II est doté d'un pistolet à haute résolution qui permet l'imagerie précise des échantillons délicats, même ceux à haute énergie de surface, tels que les matériaux non conducteurs et les échantillons biologiques. Sa structure d'accélération multi-terme produit un bruit de données d'image exceptionnellement faible, assurant une résolution d'image optimale. En outre, ce SEM est livré avec trois détecteurs : un détecteur d'électrons secondaire standard, un détecteur d'électrons rétrodiffuseur, et un adaptateur de transmission à faible vide qui peut être utilisé à la fois pour la numérisation et l'acquisition de spectre. Cet instrument est également équipé d'une source d'ionisation par électrospray (ESI) pour l'analyse d'échantillons biologiques. Cette source ESI offre une sensibilité et une sélectivité comparables à celle de l'ionisation par désorption laser assistée par matrice (MALDI) couplée à un système de vide, permettant une analyse précise de la spectrométrie de masse. En outre, l'instrument est également équipé d'un analyseur d'énergie électronique haute résolution conçu pour la résolution de crête. Cela permet d'obtenir des résultats d'analyse élémentaire plus précis et plus précieux. En outre, JEOL JEM 100CX-II offre une large gamme de fonctions de contrôle et d'inspection conviviales, dont plus de trente fonctions d'analyse automatique. Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs de personnaliser leurs exigences spécifiques en matière d'analyse d'échantillons, garantissant une imagerie et une acquisition de données de la plus haute qualité possible. Cet instrument comprend également un système automatisé de navigation par échantillonnage, qui introduit une meilleure navigation le long des surfaces des échantillons et l'acquisition ininterrompue de données pour une analyse plus rapide et une procédure d'échantillonnage plus efficace. En conclusion, JEM 100CX-II est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent qui offre une combinaison de performances supérieures, d'automatisation et de facilité d'utilisation qui peut améliorer considérablement la productivité de la recherche. Cet instrument est un outil précieux adapté à une variété d'applications industrielles et de recherche, telles que l'analyse des semi-conducteurs et la recherche biologique. Sa combinaison de caractéristiques en fait un outil inestimable lors de l'étude ou de l'étude des propriétés matérielles au niveau microscopique.