Occasion JEOL JBX-6300 #9393311 à vendre en France

ID: 9393311
E-Beam lithography system Silicon substrate, 8" Polymer coated wafer Pattern: Resist Motorized aperture Loader push rod loadlock (2) Pumps SF6 Tank Emitter: White: 120 kV High-voltage connecter Water cooled blanker High brightness field emission electron source Acceleration: 100 keV 25 MHz Deflection system With magnetic lens Beam diameter: 2 nm Pattern diameter: 8 nm Laser controlled stage capable: 1 cm Power supply: 208 V.
JEOL JBX-6300 est un microscope électronique à balayage (SEM) principalement utilisé pour l'imagerie et la microanalyse d'échantillons. Il dispose d'une technologie d'imagerie avancée, permettant aux chercheurs de visualiser et d'analyser des spécimens jusqu'à l'échelle du nanomètre. Le microscope est équipé d'un certain nombre de fonctionnalités qui fournissent des capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution. Le JEOL JBX 6300 est équipé d'un canon Thermo-FET d'émission de champ sous vide ultra-haute, capable de produire une source d'émission de champ haute résolution des électrons. Ce pistolet à émission de champ permet aux chercheurs d'obtenir une imagerie haute résolution des cibles à nano-échelle. En outre, JBX-6300 possède un système de traitement multimode du signal, qui permet aux chercheurs de basculer entre différents modes d'imagerie et de traitement. Ce système permet à l'utilisateur de sélectionner le mode de traitement optimal du signal pour son échantillon, ce qui permet une plus grande précision d'analyse. Le JBX 6300 est équipé de plusieurs fonctions d'imagerie et d'analyse avancées, dont la 3D, la rétrodiffusion et l'imagerie électronique secondaire. Les images 3D fournissent une représentation plus précise de la topographie de l'échantillon que l'imagerie 2D. L'imagerie rétrodiffusée permet de détecter des caractéristiques subtiles non visibles aux microscopes optiques. L'imagerie électronique secondaire est utilisée pour détecter les différences de composition entre l'échantillon et le fond. Ces capacités d'imagerie permettent aux chercheurs de mieux comprendre la structure et la composition des échantillons à l'échelle du nanomètre. JEOL JBX-6300 est également équipé d'une variété de fonctions de manipulation d'échantillons. L'étage motorisé permet à l'utilisateur de déplacer l'échantillon sous le faisceau d'électrons pendant que l'étage est incliné et tourné, ce qui permet une navigation aisée de l'échantillon. De plus, le microscope est équipé d'une cellule à gaz pour injecter des gaz réactifs à des fins d'analyse. La cellule à gaz permet aux chercheurs d'analyser les échantillons dans des conditions de pression et/ou de température variables. De plus, JEOL JBX 6300 est livré avec un microbe à rayons X intégré qui permet aux chercheurs d'analyser la composition élémentaire des échantillons de manière non destructive. Le microbe à rayons X est capable de détecter des éléments légers, lourds et nobles jusqu'à l'échelle du nanomètre. JBX-6300 est un puissant microscope électronique à balayage capable d'imagerie et de micro-analyse à l'échelle du nanomètre. Il comprend une variété de caractéristiques avancées telles qu'un canon à émission de champ, un système de traitement multimode du signal, un étage motorisé, une cellule à gaz et une microsonde à rayons X, offrant aux chercheurs de puissantes capacités de visualisation et d'analyse de structures et de compositions nanométriques.
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