Occasion JEOL JCM 5000 #293797365 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JCM 5000 (SEM) est un instrument extrêmement puissant utilisé pour effectuer des recherches à l'échelle nanométrique. Il utilise un faisceau d'électrons haute résolution pour obtenir des images détaillées de surface et de coupe transversale. La tension d'accélération optimale pour le fonctionnement est comprise entre 1 et 30kV, ce qui permet à l'utilisateur d'étudier avec précision les détails des échantillons à des résolutions nanométriques. Le détecteur est un scintillateur à grande vitesse qui transforme les électrons entrants en informations visibles, telles qu'une image numérique ou une carte topographique 3D. JCM 5000 offre une variété de capacités d'analyse dont l'ESB (électrons rétrodiffusés), WDS (spectroscopie dispersive en longueur d'onde), EDS (spectroscopie dispersive en énergie), et l'imagerie aux rayons X. Ces caractéristiques permettent de déterminer la composition chimique, la structure élémentaire, l'orientation cristallographique et les caractéristiques électriques d'un échantillon. Le microscope contient un canon à haute puissance d'émission de champ avec faisceau d'électrons à balayage froid, ce qui donne des images d'une clarté exceptionnelle. En plus des capacités d'imagerie, JEOL JCM 5000 dispose d'une variété de mécanismes de préparation de spécimens. Il s'agit d'un porte-spécimen, d'un transstage qui peut déplacer l'échantillon dans jusqu'à 6 axes, et d'un système spécial de préparation de film pour les couches minces. L'échantillon peut également être revêtu d'une couche conductrice (or, pulvérisation, carbone, etc.) pour réduire les charges de surface d'Ade. JCM 5000 est construit pour accueillir une gamme de porte-échantillons sophistiqués pour aider à l'observation d'échantillons dans des environnements variables. Plus précisément, un porte-cryo sous vide peut être installé pour réduire les effets de la dérive de l'échantillon et comporte un élément chauffant monté sur le dessus pour dégivrer l'échantillon. Le paquet opérationnel de JEOL JCM 5000 est complété par un système d'exploitation convivial doté d'une interface graphique conviviale. Il permet à l'utilisateur d'ajuster les paramètres et d'acquérir facilement des images sur mesure. Le microscope électronique à balayage JCM 5000 est un instrument d'analyse fiable et performant. Ses capacités supérieures d'imagerie, d'analyse élémentaire et de préparation d'échantillons, ainsi que son système d'exploitation convivial, en font un outil idéal pour les chercheurs menant des recherches à l'échelle nanométrique.