Occasion JEOL JCM-5700 #293671429 à vendre en France

JEOL JCM-5700
ID: 293671429
Style Vintage: 2007
Scanning Electron Microscope (SEM) 2007 vintage.
JEOL JCM-5700 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'une large gamme d'échantillons. Ses capacités d'imagerie haute résolution varient de 1 nm à 100 μ m, offrant l'équipement idéal pour l'analyse nanométrique et macro-échelle. Avec sa taille de point de balayage de 1,2 nm, JCM-5700 offre d'excellentes performances d'imagerie et est capable de produire des résolutions d'images tridimensionnelles à l'échelle nanométrique. Le SEM dispose d'une source d'électrons dédiée qui fournit des électrons à haute énergie pour un large éventail d'applications, y compris la cartographie élémentaire, l'analyse de la composition et l'inspection des défauts à micro-échelle. Le microscope dispose également d'une caméra CCD intégrée pour capturer des images numériques vives en pleine résolution, ce qui le rend utile pour une variété d'applications de recherche. JEOL JCM-5700 dispose d'une lentille de réglage automatique intégrée pour le fonctionnement automatisé sous vide tout en offrant une capacité de réglage manuel pour des performances d'imagerie plus rapides. Le microscope peut également être équipé d'un détecteur d'électrons secondaire Everhart-Thornley en option pour améliorer les performances d'imagerie. Ce détecteur augmente la résolution de 20 % tout en réduisant la charge de l'échantillon jusqu'à 90 % en raison de son traitement intégré du signal. JCM-5700 dispose également du système JEOL Digital Image Processing (DIP) pour visualiser les données de diverses façons. Avec cette unité, les images détaillées peuvent être superposées, comparées et analysées rapidement et facilement. Il améliore également la qualité d'image en permettant la réduction du bruit dans les images à faible flux. JEOL JCM-5700 est équipé d'une gamme de fonctionnalités d'automatisation pour rendre le fonctionnement plus efficace. Ceux-ci comprennent l'auto-focalisation pour déplacer une surface d'échantillon entre les points, auto-gaine pour assurer une coloration correcte, et l'alignement automatique pour positionner avec précision l'échantillon. Dans l'ensemble, les caractéristiques de haute performance et d'automatisation de JCM-5700 rendent la capture d'images et l'analyse d'échantillons efficaces et fiables. Il est idéal pour un large éventail d'applications de recherche, de l'échelle nanométrique à l'échelle macro. Avec son matériel flexible et ses puissantes capacités de traitement d'image, JEOL JCM-5700 est la machine idéale pour la recherche et l'utilisation industrielle.
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