Occasion JEOL JEM 100C #9408448 à vendre en France

ID: 9408448
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JEM 100C est un microscope électronique à balayage (SEM) spécialement conçu pour répondre aux besoins de l'imagerie et de l'analyse à l'échelle nanométrique. Le 100C est capable d'effectuer une imagerie et une spectroscopie haute résolution sur une large gamme d'échantillons. Cet instrument polyvalent permet de mieux comprendre la microstructure et la composition chimique de divers matériaux, des polymères et fibres organiques aux semi-conducteurs et aux métaux. Au cœur de JEM 100C se trouve un canon à émission de champ Schottky multi-pôles (FEG) qui offre une luminosité et une résolution supérieures. Il utilise un monochromateur pour sélectionner une seule longueur d'onde d'électrons et augmenter le rapport signal sur bruit. Ceci, associé à sa faible aberration des lentilles, a conduit à une imagerie à très haute résolution allant jusqu'à 0,07 nm. De plus, une chambre interne à ultra-vide (UHV) garantit que les signaux d'échantillonnage ne sont pas perturbés par les gaz de l'environnement. L'instrument dispose d'une gamme de fonctions d'automatisation, telles que le chargement automatisé de spécimens, l'entraînement d'étape et l'alignement des échantillons. Il comprend également un logiciel de traitement intégré pour les travaux de recherche, ce qui permet de gérer facilement les données. Le 100C dispose également d'un système de pompage à vide automatisé, permettant une évacuation rapide du système. JEOL JEM 100C est capable de fonctionner dans un large éventail de modes, y compris l'imagerie des électrons secondaires, l'imagerie des électrons rétrodiffusés et le dépôt induit par le faisceau d'électrons. Il a la capacité de détecter et d'analyser la composition élémentaire de l'échantillon en utilisant la spectroscopie X à dispersion d'énergie et la spectroscopie X à dispersion de longueur d'onde (EDX et WDX, respectivement). JEM 100C est un excellent choix pour les applications nécessitant les images de la plus haute résolution et la capacité d'analyser la composition chimique d'une variété de matériaux. Ses lentilles d'aberration basse, son système FEG et UHV très efficace offrent des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures. Ensemble, ces fonctionnalités font de JEOL JEM 100C un outil idéal pour tous ceux qui recherchent des images claires et haute résolution et une analyse élémentaire précise.
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