Occasion JEOL JEM 100CX #9257453 à vendre en France

JEOL JEM 100CX est l'un des microscopes électroniques à balayage (SEM) les plus puissants disponibles sur le marché. Il porte un total de 4 tubes d'accès, ce qui en fait un système multifonctions avec différentes capacités. Le 100CX est un appareil stable et fiable qui peut fonctionner sur de longues périodes avec un minimum de maintenance et est capable de scanner des échantillons d'une grande variété de zones et avec une gamme de résolutions allant de quelques nanomètres à plus de 10 micromètres. JEOL 100CX est conçu pour optimiser ses émetteurs de champ et ses performances d'imagerie en utilisant à la fois les électrons secondaires et rétrodiffusés. Cette combinaison permet une résolution optimale de l'échantillon, tant en termes de clarté que de détail. Le 100CX est un SEM planaire haute performance, ce qui le rend idéal pour l'imagerie d'échantillons bidimensionnels délicats comme des transistors d'isolement ou des échantillons biologiques. Elles permettent d'en étudier et d'en produire des images en 3D. Grâce à la section intégrée de détection combinée, le 100CX peut également être utilisé pour l'analyse élémentaire et chimique. Le type standard de détecteur comprend un détecteur EBIC, ESB, un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie, et un détecteur WDS ou RBS. Le module de détection EBIC facilite l'imagerie haute résolution de l'échantillon puisque le signal électronique est optimisé à la caractéristique, tandis que le module de détection ESB génère des électrons secondaires. Les deux détecteurs restants permettent l'analyse des rayons X dispersifs d'énergie ainsi que RBS (spectrométrie de rétrodiffusion de Rutherford) et WDS (spectroscopie dispersive de longueur d'onde). JEOL 100CX peut également contrôler son étage et la hauteur de l'échantillon avec une précision de 50 microns, donnant aux utilisateurs la possibilité de se concentrer sur la surface de l'échantillon pour une résolution accrue. Le mode basse dépression de l'instrument permet également l'examen d'une large gamme d'échantillons, des échantillons non conducteurs aux échantillons hautement conducteurs. D'autres caractéristiques de performance de JEOL 100CX comprennent des niveaux de bruit bas et le fonctionnement de basse tension, un détecteur d'angle d'acceptation large, et un scanner mécanique qui est précis à quelques nanomètres près. De plus, le 100CX permet également de contrôler facilement le balayage de surface à la fois agrandi et réduit avec sa faible capacité de grossissement. Lorsqu'ils sont assemblés, les caractéristiques de JEOL 100CX en font l'un des SEM les plus efficaces disponibles pour la recherche de haut niveau. Ce modèle est considéré comme une norme industrielle tant pour les universités que pour les industries, étant donné son large éventail de fonctions et de capacités couplées à son haut niveau de performance. En conclusion, JEOL JEM 100 CX est un choix idéal pour ceux qui cherchent à effectuer des recherches de haut niveau avec un microscope électronique à balayage puissant et fiable. Grâce à son large éventail de détecteurs, de tubes portuaires et de capacités d'imagerie exceptionnelles, le 100CX fournira même aux utilisateurs les plus exigeants les outils dont ils ont besoin pour explorer l'échelle nanométrique.