Occasion JEOL JEM 100CX #9302750 à vendre en France

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ID: 9302750
Transmission Electron Microscope (TEM) With camera.
Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 100CX est un instrument d'imagerie et d'analyse à haute résolution utilisé pour la caractérisation de divers échantillons dans un large éventail d'applications, notamment ; sciences des matériaux, médecine, géologie et biologie. Le microscope est équipé d'un canon à électrons à filament de tungstène qui produit un faisceau d'électrons focalisé sur l'échantillon par un équipement de lentille électrostatique. L'échantillon est balayé par le faisceau d'électrons et les électrons secondaires émis à la surface de l'échantillon sont recueillis afin de rendre une image haute résolution. JEOL JEM 100 CX dispose de scintillateurs doubles et de deux caméras pour garantir des performances et une qualité d'image supérieures. Le système peut fonctionner en deux modes différents ; imagerie électronique secondaire (SEI) et imagerie électronique rétrodiffusée (BEI). Le mode SEI basse tension génère des images très détaillées de l'échantillon tandis que le mode BEI fournit un contraste de surface pour montrer l'apparition de différents matériaux sur la surface. JEM 100CX offre une remarquable gamme dynamique de 12 kV et une capacité de double résolution pouvant atteindre 3980x2950 pixels. JEM 100 CX dispose d'une large gamme de capacités analytiques avancées telles que la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) et la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD). L'unité EDS permet d'identifier la composition élémentaire de l'échantillon, tandis que la machine EBSD permet de cartographier les orientations des grains tout au long de l'échantillon permettant l'analyse de la microstructure. JEOL JEM 100CX est également équipé de capacités automatisées de piquage d'images, permettant de créer des images d'échantillons plus grands que le champ de vision à l'aide d'une série d'images se chevauchant. JEOL JEM 100 CX est un outil fiable et efficace de microscopie électronique à balayage parfait pour l'étude d'une variété de matériaux. Sa conception sophistiquée avec des capacités d'imagerie avancées en fait un excellent outil pour presque toutes les applications.
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