Occasion JEOL JEM 1010 #293725155 à vendre en France

JEOL JEM 1010 est un microscope électronique à balayage à haute résolution (SEM) spécialement conçu pour l'analyse de surface et la caractérisation avancée des matériaux. Ce système est composé d'une colonne d'électrons, d'un étage d'échantillonnage, d'une unité de détection et d'une unité d'alimentation. Le filament d'anode scellé sous vide produit des électrons qui sont ensuite focalisés à travers des lentilles de condenseur. Ces électrons sont alors incidents sur l'échantillon où des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés, des rayons X et d'autres signaux sont produits. L'étage d'échantillonnage est utilisé pour déplacer l'échantillon au point focal du faisceau d'électrons. L'unité de détection peut détecter les électrons secondaires et rétrodiffusés ou les rayons X afin de générer une image de la surface de l'échantillon. L'unité d'alimentation est utilisée pour contrôler la tension d'accélération de la colonne électronique, permettant le balayage de l'échantillon à une plage d'énergies électroniques. SEM permet d'étudier les caractéristiques de surface jusqu'au niveau nanométrique. Lorsqu'il est couplé à la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), il est utilisé pour déterminer la composition élémentaire et les états chimiques des matériaux observés. Deux détecteurs sont disponibles pour le MJE 1010 ; le détecteur à conduction à angle solide (SALD) et le détecteur à lentille (ILD). Le SALD permet un angle de collecte de 180 degrés tandis que le ILD permet un angle de collecte de 90 degrés. Les deux détecteurs offrent une grande sensibilité et fiabilité de collection. JEOL JEM 1010 dispose également d'un étage de spécimen automatisé, qui permet le déplacement rapide des spécimens sur commande de l'opérateur. Ce SEM peut recueillir des données à une gamme de grossissements, y compris des grossissements élevés jusqu'à 1000,000X. Ce SEM de haute précision est idéal pour toute une gamme d'applications telles que la caractérisation de la morphologie de surface, la cristallinité, la granulométrie, l'intégrité de surface, la composition élémentaire et les défauts structurels. Sa haute résolution et sa précision le rendent également adapté à de nombreuses études scientifiques des matériaux liées aux métaux, nanomatériaux, polymères, céramiques et échantillons biologiques. Enfin, cet instrument est également couramment utilisé dans l'analyse des défaillances, la caractérisation des MEMS et les essais et le développement industriels.