Occasion JEOL JEM 1010 #9302076 à vendre en France

JEOL JEM 1010 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise des faisceaux d'électrons pour créer des images en deux et trois dimensions d'un échantillon. Il est utilisé pour examiner une gamme de matériaux, des métaux aux échantillons biologiques, à un large éventail de grossissements. Le canon à électrons de JEM 1010 fonctionne à 10-30kV, et son système de détection a une distance de travail réglable et est optimisé pour l'imagerie haute résolution. À l'aide de son détecteur de scintillation à quatre quadrants, JEOL JEM 1010 produit des images SEM à fort contraste d'échantillons. Le détecteur permet également à l'utilisateur d'observer la composition des échantillons, avec ses capacités de rayons X dispersifs en énergie (EDX). JEM 1010 est capable de produire des images numériques et analogiques. Les images numériques peuvent être sorties dans des formats bidimensionnels (2D) ou tridimensionnels (3D), et peuvent être encore manipulées pour produire des images à plus haute résolution ou pour visualiser la topographie d'un échantillon. Les images analogiques peuvent être utilisées pour l'imagerie basse résolution de plus grands spécimens, ou pour mesurer des caractéristiques de surface. JEOL JEM 1010 est équipé d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB), utilisé pour l'imagerie de surfaces d'échantillons. Les images de l'ESB permettent aux utilisateurs d'observer en détail la topographie de surface et la composition d'un échantillon. L'étape de prélèvement de JEM 1010 est conçue pour contenir une gamme d'échantillons, y compris biologiques, et est capable de manipuler des températures allant jusqu'à 180 ° C Il peut également être mis en place pour l'imagerie d'échantillons en présence d'un fluide. L'étage peut être ajusté pour le centrage, la rotation et l'inclinaison, permettant aux utilisateurs de créer des images dynamiques ou de faire tourner un échantillon. JEOL JEM 1010 est équipé de plusieurs caractéristiques pour assurer sa précision et sa stabilité. Il s'agit notamment d'une fonction d'auto-essai intégrée, d'une marque d'alignement et d'une vérification d'alignement. En plus de ces caractéristiques, JEM 1010 comprend également plusieurs caractéristiques externes pour la commande du microscope, telles que la lentille de zoom électronique optionnelle. JEOL JEM 1010 est un SEM efficace et fiable pour l'imagerie d'une large gamme de matériaux. Ses caractéristiques, notamment sa faible tension de fonctionnement et ses nombreuses commandes externes, en font un outil inestimable pour les chercheurs de diverses disciplines.