Occasion JEOL JEM 1010 #9302701 à vendre en France

JEOL JEM 1010 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour produire des images à haute résolution et des données analytiques à des grossissements allant jusqu'à un demi-million de fois. Au cœur de l'équipement se trouve son canon électronique, qui génère un faisceau d'électrons à haute énergie qui est utilisé pour détecter, analyser et représenter des surfaces et des structures de matériaux à l'échelle nanométrique. Le système est équipé d'une unité d'imagerie avancée qui permet un balayage en forme de S pour capturer des données avec une résolution inférieure à 1nm. Il comprend également une machine de détection de rétrodiffusion haute résolution pour l'analyse des matériaux et un ordinateur avec une plate-forme logicielle d'analyse intégrée pour l'analyse des données. Au cœur de l'outil se trouve son canon à électrons, qui est capable de générer des faisceaux d'électrons avec une plage de tension d'accélération de 0,5-30 kV et un courant de faisceau de 1 nA. Le canon comprend une source d'électrons, une lentille de condenseur et une lentille objective, ainsi que plusieurs autres lentilles et ouvertures pour le réglage fin. L'actif est équipé d'un thermoélectricité classique émis et d'une source de canon à émission de champ. Le modèle de commande est conçu avec un balayage de précision et un équipement de commande très sophistiqué qui permet un positionnement et une manipulation d'image très précis. L'image est générée par le mouvement du faisceau d'électrons sur la surface échantillonnée, qui est balayée pour capturer les données désirées. Une fois l'image acquise, elle peut être traitée et analysée avec le logiciel fourni. JEM 1010 comprend également une variété de capacités analytiques spécialisées, telles que la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDX), la spectroscopie de perte d'énergie électronique (EELS), la cartographie élémentaire et la spectroscopie à résolution spatiale. En outre, le système permet d'examiner les surfaces non conductrices à l'aide d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés à basse tension, ce qui permet d'analyser à la fois les caractéristiques topographiques et les caractéristiques de surface. Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 1010 est une unité très polyvalente et conviviale qui permet aux chercheurs de capturer des images et des données analytiques à haute résolution à partir d'échantillons et de matériaux nanométriques délicats. En combinant son puissant canon à électrons, ses capacités d'imagerie et d'analyse sophistiquées et une machine logicielle intégrée, l'outil est un outil idéal pour la recherche et le développement dans une grande variété d'applications.