Occasion JEOL JEM 1011 #293654724 à vendre en France

JEOL JEM 1011 est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) capable de produire des images d'échantillons avec une précision et une précision extrêmes. La conception de l'instrument permet le fonctionnement de deux modes d'imagerie : l'imagerie électronique secondaire (SEI) et l'imagerie électronique rétrodiffusée (BEI). En mode SEI, JEM 1011 utilise un faisceau d'électrons focalisés pour balayer la surface de l'échantillon, provoquant l'émission d'électrons secondaires de la surface supérieure de l'échantillon. Les électrons secondaires sont ensuite collectés par un détecteur à la base de l'instrument et sont mesurés et traités par un ordinateur, permettant la création d'une image. En mode BEI, le faisceau focalisé est toujours utilisé pour balayer la surface de l'échantillon, mais certains électrons sont plutôt diffusés à partir des propriétés internes de l'échantillon, ce qui permet de créer une image de sa section transversale. L'instrument est également capable de mesurer l'énergie des électrons secondaires émis, révélant des informations sur la nature de la surface de l'échantillon. Ces données mesurées sont ensuite utilisées pour créer une carte de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), qui peut être utilisée pour déterminer la composition élémentaire de l'échantillon. La puissance de JEOL JEM 1011 s'étend également à sa capacité à exécuter une variété de tailles d'échantillons et de techniques de manipulation. Le système dispose d'un étage réglable pour la manipulation dynamique des échantillons, ainsi que d'un réglage automatisé de l'alignement des échantillons jusqu'à 10cm de diamètre. Le JEM 1011 possède une source d'électrons à canon à émission de champ (FEG), capable de produire des faisceaux d'électrons à haute luminosité avec une faible tension de fonctionnement. Ceci permet d'obtenir une image haute résolution lors de l'imagerie d'échantillons. La grande manoeuvrabilité du faisceau d'électrons peut également être ajustée pour fournir des surfaces stables pour l'imagerie, tout en réduisant les effets de contraste chimique. En outre, JEOL JEM 1011 est équipé de logiciels d'analyse qui peuvent être utilisés pour quantifier les données sur la composition et les caractéristiques de l'échantillon. Pour simplifier le fonctionnement de l'instrument, JEM 1011 est livré avec une interface utilisateur graphique conviviale qui permet au technicien de contrôler facilement les réglages. Il existe également une gamme d'autres accessoires utiles qui peuvent être combinés pour améliorer le système. Cela inclut le contrôle de grossissement et les fiduciaires de scène, qui aident à optimiser la précision de l'acquisition d'image ainsi que la précision du positionnement de l'échantillon X-Y. Dans l'ensemble, JEOL JEM 1011 est un puissant microscope électronique à balayage avec des capacités polyvalentes, ce qui en fait un excellent choix pour de nombreux besoins d'imagerie et d'analyse.