Occasion JEOL JEM 1011 #293658628 à vendre en France

JEOL JEM 1011 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse d'une variété d'échantillons allant des échantillons biologiques aux spécimens de sciences minérales et des matériaux. Il est capable de fonctionner à vide élevé et faible, et dispose d'un grand champ de vision, de détections de photomultiplicateurs et de systèmes de contrôle avancés. JEM 1011 fournit une imagerie haute résolution avec des résolutions jusqu'à 1nm en mode électron secondaire (SE), et 0,5 nm en mode électron rétrodiffusé (ESB). Le SEM utilise un faisceau d'électrons à très haute énergie pour enregistrer des images de la surface d'un échantillon. La source des électrons est un filament de tungstène chauffé, ou émetteurs de champ, contrôlé par un système de rétroaction qui permet un contrôle précis du courant du faisceau, de l'énergie et de la taille des taches. Tous les paramètres peuvent être ajustés pour fournir des conditions optimales pour certains types d'échantillons. Le porte-échantillon est conçu pour contenir des échantillons SEM standard et peut être incliné dans deux directions au maximum, permettant l'acquisition d'image sous différents angles. Pour détecter les électrons émis par l'échantillon, JEOL JEM 1011 est équipé d'un détecteur photomultiplicateur de grand diamètre à faible bruit. Il est conçu pour un positionnement très précis et dispose d'un préamplificateur à faible bruit pour une détection optimale du signal. Le détecteur peut détecter des électrons rétrodiffusés, des électrons secondaires, ou divers types de rayons X (caractéristiques, diffraction, etc.). Pour faciliter l'imagerie des grandes surfaces, JEM 1011 est équipé d'un étage automatisé et d'un système de navigation par échantillons. Cela permet aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision les surfaces de l'échantillon, et fournit un aperçu de l'échantillon pour identifier plus rapidement les régions d'intérêt. En outre, JEOL JEM 1011 est équipé d'une suite logicielle puissante, permettant aux utilisateurs d'ajuster tous les paramètres du SEM, ainsi que d'analyser et de manipuler des images. Cela comprend des outils d'analyse quantitative d'image, de piquage d'image pour les grands champs de vision, et une gamme d'algorithmes d'amélioration d'image. JEM 1011 offre un large éventail de capacités d'imagerie et d'analyse de surfaces d'échantillons, permettant aux utilisateurs de caractériser rapidement et avec précision leurs échantillons. Sa combinaison d'imagerie haute résolution, de systèmes sophistiqués de manipulation d'échantillons et de logiciels intuitifs font de JEOL JEM 1011 un instrument idéal pour l'imagerie et l'analyse haute résolution.