Occasion JEOL JEM 1200EX II #9250371 à vendre en France

JEOL JEM 1200EX II est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour des applications de nanocharactérisation polyvalentes. Ce modèle est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) pour améliorer l'optique électronique et l'imagerie à plus haute résolution. Le microscope intègre également un étage x-y de haute stabilité pour un balayage rapide et précis des échantillons. Le SEM comprend un détecteur dans les lentilles (IED) pour détecter les électrons secondaires (SE) et un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) pour obtenir un meilleur contraste sur les différentes conductivités des échantillons. Le canon à électrons a une tension d'accélération allant de 1kV à 30kV et un courant d'échantillon allant jusqu'à 200nA, ce qui le rend idéal pour les applications de nanocharactérisation dans la science des matériaux, la recherche biologique et industrielle. JEOL JEM 1200 EXII est équipé d'une technologie ultra-vide (UHV) qui assure un niveau élevé de vide microscopique et de propreté, permettant d'observer la structure de l'échantillon sans interférence des molécules d'air ou des particules chargées dans le faisceau. Le microscope peut également être utilisé pour analyser des échantillons cryo-suspendus qui sont refroidis à très basse température à travers un accessoire de mandrin froid et du gaz azoté. Les images 3D haute résolution sont obtenues avec une caméra CCD 16 bits, améliorant la précision et la résolution des images échantillons. La caméra numérique est connectée à la tourelle SEM où le détecteur de champ lumineux (BF), le détecteur de champ sombre (DF) et le détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) peuvent être utilisés. JEM 1200EX II offre un large choix d'accessoires dont un détecteur de cathodoluminescence (CL), un détecteur de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), une lentille d'émission de champ à éléments finis et un étage x-y motorisé pour le balayage automatisé des échantillons. Le logiciel d'application livré avec JEM 1200 EXII permet de personnaliser l'imagerie et l'analyse des échantillons. Le logiciel contient plusieurs paramètres d'image prédéfinis et une fonction d'optimisation automatique qui permettent aux utilisateurs d'obtenir des performances d'imagerie cohérentes. Il est également possible de stocker des images et de préparer des présentations dans différents formats. Le logiciel optionnel Analyze pour l'analyse automatisée et avancée améliore encore les résultats d'imagerie obtenus avec ce modèle. Dans l'ensemble, JEOL JEM 1200EX II est un choix idéal pour les applications de nanocharactérisation. Il offre d'excellentes fonctionnalités d'imagerie et est facile à utiliser. L'intégration logicielle permet une imagerie précise et un traitement automatisé des images, ce qui en fait un instrument inestimable pour les chercheurs.