Occasion JEOL JEM 1200EX II #9250558 à vendre en France
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Vendu
ID: 9250558
Transmission Electron Microscope (TEM)
Magnification: 50x to 500,000x
GATAN ORIUS CCD Side mount digital camera
Standard magnification mode:
SAP10B: 800 to 600,000 times, 30 steps
SHP10: 1,200 to 1,000,000 times, 30 steps
SAP10: 600 to 500,000 times, 30 steps
Selected area magnification mode:
SHP10B: 4,000 to 500,000 times, 22 steps
SAP10: 2,000 to 250,000 times, 22 steps
Low magnification mode: 50 to 1,000 times, 14 steps
Electron diffraction camera:
Display: Digital, film printout
Selected area electron diffraction:
SAP10B: 150 to 3,500 mm, 15 steps
SHP10: 100 to 2,500 mm, 15 steps
SAP10: 200 to 5,000 mm, 15 steps
High disperation diffraction: 4 to 80 m, 14 steps
High resolution diffraction: 337 mm
Electron gun:
Type: Cool beam
Filament: Pre-centered hairpin type, DC heating
Bias: Self bias, continuously variable
Alignment: Electromagnetic 2-stage interlock system
Anode chamber valve and electron gun lift:
Built-in
Pneumatic control
Condenser lens: Electromagnetic, double condensers
Beam tilting angle: Maximum 6°
Specimen exchange: Airlock mechanism
Loading capacity: (2) Specimens
Specimen movement range:
X, Y Directions: ±1 mm
Z Direction: +0.2, -0.3 mm
Camera chamber:
Film size J: 59 mm x 81.5 mm
Loading capacity: Up to 50
Feeding and shutter: Automatic and manual
Exchange mechanism: Airlock type
Evacuation system:
Vacuum pumps: Oil rotary pump and oil diffusion pump
Ultimate pressure: 10^-5 Pa
Cooling water:
Flow space: 5 I/min
Pressure: 0.1 to 0.5 MPa
Temperature: 15°C - 20°C
Ground terminal: 100 ohms or less, 1
Power supply: 200-240 V, 50/60 Hz, 6.5 kVA, Single Phase.
Le microscope électronique à balayage JEOL JEM 1200EX II (SEM) est un équipement scientifique sophistiqué, idéal pour étudier les propriétés physiques des matériaux solides au niveau microscopique. Le SEM fonctionne selon les principes de libération de charge et de détection à la surface d'un échantillon, permettant une imagerie et une analyse à haute résolution. En utilisant des conditions de fonctionnement variables telles que la tension, l'amplification et la distance de travail, le SEM peut produire des images jusqu'à 4 nanomètres en résolution avec une profondeur de champ de 30 µm. JEOL JEM 1200 EXII est conçu pour les utilisateurs de tous niveaux. Son interface conviviale le rend facile à contrôler et à configurer, avec des boutons dédiés pour les fonctions couramment utilisées. L'opérateur peut facilement basculer entre des modes d'imagerie comme l'imagerie multi-faisceau SEM pour améliorer le contraste et la résolution, ou l'imagerie rétrodiffusée pour une meilleure reconnaissance des caractéristiques de surface. En outre, le microscope peut être équipé d'un certain nombre d'accessoires pour améliorer ses performances et sa convivialité, tels que des porte-échantillons, des systèmes de contrôle de gaz et des systèmes d'échange automatisé d'échantillons. JEM 1200EX II combine haute performance, faible complexité du réseau et facilité d'utilisation pour fournir une imagerie optimalement fiable pour une gamme d'applications en sciences des matériaux. Il est équipé d'un canon à émission de champ et d'un système permettant de maximiser les performances à long terme. Ce système filtre les débris de la chambre du canon, prolongeant la durée de vie du canon et fournissant des images de qualité constante. Le canon à électrons utilise également un monochromateur haute résolution pour une meilleure précision de couleur et un meilleur contraste d'image. JEM 1200 EXII peut être utilisé dans diverses conditions environnementales telles que haute ou basse pression, haute ou basse température, ainsi que dans des échantillons gazeux, liquides ou solides. Avec son système automatisé d'échange d'échantillons, le microscope peut facilement basculer entre les échantillons sans aucun travail manuel. De plus, le SEM offre des options logicielles facultatives pour contrôler le microscope, mesurer et analyser des images, et même pour stocker et manipuler des données. JEOL JEM 1200EX II est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent conçu pour fournir l'imagerie et l'analyse d'objets à l'échelle microscopique. Grâce à sa haute performance, sa facilité d'utilisation et sa flexibilité, le microscope peut aider les chercheurs à analyser rapidement et avec précision les matériaux pour une grande variété d'applications.
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