Occasion JEOL JEM 1210 #149958 à vendre en France
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ID: 149958
Style Vintage: 1994
Transmission electron microscope
Specifications:
For high contrast imaging at low to moderate magnifications (< 100,000x)
Used to image thin (< 200nm) samples of polymers and frozen hydrated solutions (surfactants,colloids, emulsions)
Maximum operating voltage: 120kV
Capable of imaging in high magnification (> 1,000x), low magnification, and diffraction modes
Minimum dose software
Free lens control
On-line measurement capabilities
Applications:
Conventional imaging and diffraction analysis
Cryo-transfer TEM of frozen hydrated specimens
Low-dose imaging of delicate specimens
Capabilities:
Accelerating voltage range 40-120 kV
Resolution 0.20 nm lattice, 0.36 nm point
Magnification from 50x to 800,000x
Graphical user interface with mouse control of most microscope functions
Film sheet type camera (can be upgraded to a digital camera system)
Includes:
Surrounding structure/desktop
Components to assemble system
Supporting documents, software disks, manual schematics
Tool Box and Manuals
Top Cl Lens
Flex Vacuum Lines
Penning Gauge Head
Pirani Tube, Top Vacuum Manifold
Film Receiving Boxes
Vibration Isolator Block and Air Line
Main Operation Video CRT Monitor
Main Gun lift Assembly
Keyboard
EM 21010 Single Tilt
Specimen Holder
Filaments
Spare Parts for ACD Heater
Extender PCB
Water Valve
Water Flow Meters
Misc. Parts
Assorted Cables
Film ING CRT
Cables and Binoculars
Air Compressor
HT Cable and Switch
Grounding Arm and Springs
Gun Lift Arm. Anode Chamber
Gun Ceramic
ACD Tank
Braided Copper
Anode Flexible Vacuum Line
Camera Adapter
Gun Chamber
Always under OEM service contract
De-installed by OEM and stored Q4 2006
1994 vintage.
JEOL JEM 1210 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu et fabriqué par JEOL Ltd. Ce SEM utilise une cathode de canon à émission de champ (FEG) pour obtenir une imagerie haute résolution et des niveaux élevés de grossissement. JEM 1210 est capable d'accélérer les électrons à une énergie de 1,2 kV, avec une tension d'accélération maximale de 10 kV. Cette EM dispose d'un étage de 100 mm de large avec un système de lentilles de zoom qui fournit une plage de grossissement de 10x à 100,000x. Les optiques électroniques JEOL JEM 1210 offrent une excellente résolution et un excellent contraste, avec un minimum de bruit produit par les photons et un faible niveau d'électrons parasites résultant de la cathode FEG. L'EM est équipé d'une interface d'imagerie numérique qui permet d'obtenir des images numériques directes, soit en mode Tile Scan, de l'échantillon, et ces images peuvent être analysées à l'aide d'un logiciel dédié. La JEM 1210 est équipée d'un étage motorisé d'une taille minimale de 8nm. Cela permet des ajustements microscopiques fins lorsque nécessaire et permet l'imagerie de très petits spécimens. Il dispose également d'un détecteur de rétrodiffusion (BSD) qui fournit un signal d'électrons secondaires pour améliorer l'imagerie et la détection d'objets minuscules, ainsi qu'un détecteur de pression variable qui permet à l'instrument de photographier des échantillons sous vide si nécessaire. En plus d'être adapté aux tâches courantes, JEOL JEM 1210 est également capable d'effectuer une analyse complexe multi-sondes, une méthode de collecte d'un large éventail d'informations sur un échantillon telles que la composition, la cartographie des éléments, la topographie de surface, la texture, la taille et la forme des grains. En outre, il a la capacité de détecter un large éventail d'énergies, de 4keV à 10keV, permettant l'analyse d'un large éventail de particules, y compris certaines qui ne peuvent pas être vues avec d'autres méthodes SEM. Pour la préparation des spécimens, JEM 1210 est fourni avec deux porte-spécimens In-Situ, permettant des étapes à température contrôlée, à la fois pour le chauffage et le refroidissement, ainsi que le dépôt in-situ de matériaux. En outre, le logiciel PC de pointe fournit de puissantes fonctions de manipulation d'image, y compris la composition d'image, le contrôle de la luminosité et du contraste, l'analyse des particules, l'analyse histogramme et l'imagerie 3D. Dans l'ensemble, JEOL JEM 1210 est un outil puissant et polyvalent qui peut être utilisé pour un large éventail d'applications par les scientifiques et les chercheurs. Il offre un haut niveau de grossissement, une excellente résolution et un contraste, ainsi qu'une gamme de fonctions de préparation d'échantillons et de manipulation d'image.
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