Occasion JEOL JEM 1210 #9204269 à vendre en France

JEOL JEM 1210 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications tant en laboratoire qu'industrielles. Le dispositif dispose d'une grande chambre à vide et fournit une plage de grossissement de 10X à 30,000X. Il utilise un détecteur configuré à 90 ° sur l'échantillon, fournissant une vue 3D de l'échantillon. En outre, le canon à électrons a une gamme d'énergie contrôlable de 0,5 à 30 KeV, fournissant la capacité d'affiner la profondeur de l'image. Incorporant une pulvérisation d'éclairage « à angle élevé » unique, la JEM 1210 offre une meilleure uniformité du courant du faisceau et une meilleure couverture pour les plus grands échantillons. L'instrument comprend également des fonctions de balayage telles que 'Sub-Scan', qui permet à l'utilisateur d'agrandir l'image d'un facteur sélectionné jusqu'à 30X, ainsi que 'Super-Scan' qui peut augmenter la vitesse d'imagerie jusqu'à 200 fois par rapport à la vitesse de balayage standard. JEOL JEM 1210 est emballé avec une gamme de fonctionnalités conçues pour améliorer les propriétés d'imagerie. Un mode dédié « Correction du champ d'accélération » compense toute distorsion causée par des champs magnétiques au voisinage de l'échantillon. L'option « microanalyse électronique » permet une analyse quantitative de l'échantillon en plus de l'imagerie. L'unité permet également à l'utilisateur de recueillir des spectres de rayons X de l'échantillon, fournissant des informations élémentaires sur l'échantillon. JEM 1210 intègre une variété d'accessoires périphériques pour la détection et l'analyse. Le système comprend un détecteur séparateur de première étape, une unité de balayage de deuxième étape et un dispositif d'imagerie numérique, permettant des performances rapides et des résultats supérieurs. Le dispositif comprend également une unité de recherche et une unité d'étape, ce qui permet un balayage et une manipulation précis de l'échantillon. En outre, JEOL JEM 1210 intègre un logiciel personnalisé pour le contrôle automatisé du système et le contrôle intégré de diverses fonctions sur le balayage. Avec son large éventail de fonctionnalités avancées, JEM 1210 fournit aux utilisateurs un outil puissant pour l'imagerie et l'analyse d'une variété de matériaux, allant des atomes et des molécules aux semi-conducteurs et aux nanostructures. Cette SEM polyvalente est une solution efficace pour l'analyse complète des échantillons et l'imagerie.