Occasion JEOL JEM-1230 (HC) #9207453 à vendre en France

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ID: 9207453
Style Vintage: 2004
Transmission electron microscope (TEM) Selected area electron diffraction (SAED) capable EDS Accessories: HASKRIS R100E111CG Chiller GATAN 894 2k x 2k Ultrascan 1000 CCD GATAN 792 1k x 1k Multiscan 600W PENTA EM-11170-5 Specimen hold DELL P3800 Pentium 4 Computer NEC LCD 1800SX 18" Display EPSON C84 Inkjet printer With single tilt holder (5) Specimens holders (2) Cameras: High resolution: External computer runs with high resolution Low mag: Graphics card included Includes: Spare aperture strips LaB6 Filament Documentation 2004 vintage.
JEOL JEM-1230 (HC) est un microscope électronique avancé à balayage à haute résolution (SEM) offrant des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures avec une image de contraste élevé et une grande profondeur de champ. Ceci est réalisé grâce à l'utilisation d'un canon à électrons haute tension, d'un type de balayage raster et d'un équipement de retraitement permettant des opérations de haute précision. Ce système offre également une large gamme de modes d'imagerie et de capacités de manipulation d'échantillons avec une console de commande intégrée. L'unité tire ses puissantes capacités d'analyse d'image de son impressionnante gamme d'outils de manipulation d'échantillons, y compris un basculement horizontal réglable, un étage rotatif d'échantillons, et une machine auto-focus. La console de contrôle de commande intégrée est conçue pour réduire les erreurs de l'utilisateur, ce qui lui permet d'entrer facilement des paramètres et d'interagir avec les systèmes du microscope. La capacité d'imagerie et d'analyse de données de haute qualité du microscope peut encore être améliorée grâce à l'outil inclus de détection de filtrage de l'énergie (EFD), qui permet l'analyse des éléments lumineux et permet aux utilisateurs d'éliminer les signaux indésirables de l'image. L'actif EFD ajoute également davantage de contraste et de détails aux images. JEOL JEM-1230 (HC) prend en charge un large éventail de techniques d'imagerie, de l'amélioration du contraste à l'imagerie nano-échelle en passant par le contraste multi-étapes. Avec les techniques de contraste avancées, vous pouvez obtenir une imagerie puissante et l'analyse de données. Avec ses performances améliorées, JEOL JEM-1230 (HC) peut produire des résultats sans avoir besoin de sources électroniques classiques à balayage. En outre, JEOL JEM-1230 (HC) fournit une interface utilisateur intuitive qui permet aux utilisateurs de faire fonctionner le microscope en douceur et avec précision. Une série complète d'outils automatisés a été élaborée pour réduire au minimum le temps et les efforts tout en maximisant les résultats de haute qualité. Dans l'ensemble, JEOL JEM-1230 (HC) est un microscope électronique à balayage à haute résolution (SEM) offrant des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures grâce à sa gamme impressionnante de caractéristiques, y compris son inclinaison horizontale réglable, son étage d'échantillonnage rotatif, son modèle auto-focus et son équipement de détecteur de filtrage d'énergie (EFD). Avec son interface utilisateur intuitive, ses outils automatisés et ses capacités d'imagerie de pointe, les utilisateurs de JEOL JEM-1230 (HC) peuvent s'attendre à obtenir des images puissantes et une analyse de données avec un minimum d'effort.
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