Occasion JEOL JEM 1230 #293820131 à vendre en France

JEOL JEM 1230 microscope électronique à balayage (SEM) est l'un des premiers systèmes de microscope électronique à balayage disponibles pour des applications industrielles et scientifiques. JEM 1230 utilise les électrons secondaires (SE) pour l'imagerie, et peut également être utilisé pour la spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS), l'analyse des propriétés électriques telles que la tension d'épuisement dans les échantillons, et la microscopie électronique à transmission à balayage (STEM). JEOL JEM 1230 est équipé d'une interface utilisateur à écran tactile qui simplifie le fonctionnement de l'équipement et permet à l'utilisateur d'accéder rapidement aux paramètres d'imagerie et de les ajuster. Cette interface utilisateur permet d'accéder aux réglages du microscope électronique à balayage, y compris l'angle d'inclinaison du canon, la sélection des objectifs, la focalisation de l'image, l'intensité du faisceau et la tension d'accélération. JEM 1230 dispose d'une source d'émission en champ froid pour l'imagerie améliorée et est capable d'imager des échantillons dans des applications à faible kV (jusqu'à 100V) et jusqu'à 30KV pour des applications plus exigeantes. JEOL JEM 1230 peut être utilisé pour générer des données à haute résolution et analytiques, ce qui en fait un choix idéal pour une variété d'applications. Il est capable de produire des images haute résolution avec une plage de grossissement allant jusqu'à 150,000X. La norme JEM 1230 comporte également un porte-spécimen rotatif en colonne qui permet la vision en rotation des échantillons. Cette fonction offre une capacité unique d'analyse améliorée des caractéristiques structurelles ou des géométries de l'échantillon. En outre, JEOL JEM 1230 est équipé d'un étage automatisé et d'un microscope d'alignement intégré permettant à l'utilisateur de scanner rapidement les échantillons de manière rapide et efficace. JEM 1230 est également configuré pour les détecteurs refroidis, ce qui permet d'utiliser le système dans une variété d'applications d'imagerie. JEOL JEM 1230 contrôle et surveille les paramètres du processus d'imagerie pour améliorer le fonctionnement et la sécurité. Il comprend également des caractéristiques telles qu'une unité d'alignement automatisé, une machine de contrôle du courant de faisceau, et un outil de contrôle avancé pour surveiller et contrôler la température de l'échantillon pendant l'imagerie. JEM 1230 dispose d'un atout d'imagerie haute définition pour améliorer la clarté de l'image et la plage tonale. Ce modèle permet l'imagerie d'échantillons avec plus de détails et de précision. L'équipement d'imagerie est spécialement conçu pour les petites particules et dispose de la résolution de granulométrie jusqu'à 1 micromètre. JEOL JEM 1230 est un système avancé de microscopie électronique à balayage conçu pour des applications industrielles et scientifiques nécessitant une imagerie à haute résolution et analytique. C'est le choix idéal pour les applications d'imagerie les plus exigeantes, de l'imagerie basse kV aux applications haute kV telles que SIMS et STEM.