Occasion JEOL JEM 1230 #9115435 à vendre en France

JEOL JEM 1230 Microscope électronique à balayage est un microscope électronique à balayage de type à émission de champ (SEM) qui est capable d'imagerie haute résolution à deux fois la puissance de résolution des SEM antérieurs. Ce microscope fonctionne à une tension d'accélération plus faible que les autres SEM, ce qui est avantageux lors de l'imagerie d'échantillons fragiles. Le JEM 1230 est équipé d'un canon à fort courant d'émission de champ. Le canon a été développé pour que la tension d'accélération qui lui est appliquée puisse être choisie de 4 kV à 30 kV. Cela permet une large gamme d'images allant des opérations sur le terrain proche aux opérations sur le terrain lointain. JEOL JEM 1230 SEM dispose également d'un système de régulation de température de surface à haute sensibilité qui peut être utilisé pour contrôler la température de surface de l'échantillon en mode de balayage raster. De cette façon, la température de l'échantillon peut être ajustée lors de l'imagerie pour conserver des structures délicates. JEM 1230 est capable d'analyser des échantillons ultra-conducteurs à isolants. Des techniques spécialisées sont disponibles sur ce microscope, comme la fluorescence aux rayons X pour l'analyse à longue distance et l'EDS pour l'analyse de la composition élémentaire. Le système EDS comprend un détecteur de rayons X dispersif d'énergie pour une sensibilité et une résolution élevées. Un détecteur SSC/EELS intégré permet l'analyse ponctuelle de spécimens à résolution atomique. Également inclus avec JEOL JEM 1230 est un blanker de faisceau contrôlé par ordinateur. Ce dispositif ferme automatiquement le faisceau lorsque celui-ci heurte l'échantillon ou quitte l'image de l'échantillon. JEM 1230 est équipé d'un système double caméras et traitement d'image qui fournit une vitesse de balayage de 20 kHz. Cela combine pour une haute résolution, des performances d'imagerie à grande vitesse et une acquisition d'image rapide. Le microscope comprend également un étage Tilt qui permet +/-15 ° d'inclinaison angulaire à l'étage spécimen et peut être utilisé pour l'analyse topographique des défauts. JEOL JEM 1230 SEM dispose d'un étage entièrement automatique qui permet de charger des échantillons jusqu'à 10 mm de diamètre. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage JEM 1230 est un outil idéal pour les laboratoires de recherche et les applications industrielles. Son imagerie haute résolution et son large éventail de techniques spécialisées le rendent adapté à une grande variété de tâches. Ses fonctionnalités automatiques le rendent également facile à utiliser et aident à garantir les résultats de la plus haute qualité.