Occasion JEOL JEM 1230 #9226959 à vendre en France
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ID: 9226959
Style Vintage: 2005
Transmission electron microscope (TEM)
Digitized microscope controlled by microprocessor
Motorized 5-axis object stage
Active matrix color monitor (TFT)
Interactive control of operating parameters by mouse / Console
Backup of operating parameters and control
Programmable personal files
Standard RS 232 C connections
Guaranteed resolution: 0.20 nm in periodic system
Acceleration voltage:
40 to 120 kV
Plot minimum: 50 V
Programmable
Magnification range:
50 x 1000 x (Low MAG function)
1000 x 600,000 x (MAG function)
Object tilt: +/- 45°
2005 vintage.
JEOL JEM 1230 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM). Il fournit un niveau avancé de résolution et de qualité d'image qui peut être utilisé dans diverses applications d'imagerie scientifique et industrielle. L'équipement tout-en-un dispose d'un monochromateur à quartz ainsi que d'une lentille optique à haute résolution et d'une vitesse de balayage ultra-rapide. Il a une large gamme de grossissements de balayage avec 20X à 1,000,000X, permettant des analyses détaillées d'une grande variété d'échantillons. Ce SEM dispose également d'un système intégré de microanalyse qui peut être utilisé pour obtenir des informations élémentaires telles que l'oxygène, le carbone et le soufre. Il a une tension d'accélération maximale de 30 kV qui permet une résolution plus élevée et des courants de faisceau bas pour réduire les dommages de l'échantillon. Le logiciel sophistiqué permet un contrôle intuitif et facile de l'instrument par l'utilisateur. Cela inclut le réglage des paramètres d'acquisition de données, le contrôle de la vitesse d'analyse et le contrôle de l'amélioration de l'image. Le logiciel dispose également de capacités d'édition et d'analyse d'images, ainsi que de cartographie d'images 3D, qui peuvent être utilisées pour des analyses détaillées. JEM 1230 est un outil polyvalent et fiable qui fournit une imagerie haute résolution dans un large éventail d'applications, telles que la nanotechnologie et la science des matériaux. Il est équipé d'un détecteur de fil sophistiqué qui permet l'acquisition rapide d'images pour des systèmes semi-automatisés, tels que ceux utilisés en imagerie sub-micron. En outre, le SEM contient une caméra numérique pour permettre l'observation directe avec un oculaire. Dans l'ensemble, JEOL JEM 1230 est un SEM avancé et très fiable avec une excellente qualité d'image. Il offre une excellente résolution et la capacité de fournir des analyses détaillées d'une variété d'échantillons, ainsi qu'une interface conviviale qui le rend facile à utiliser et à contrôler l'instrument. De plus, l'unité d'analyse intégrée et les capacités de cartographie 3D permettent aux opérateurs d'obtenir un aperçu détaillé des caractéristiques d'un échantillon. La machine est idéale pour une gamme d'applications et fournit un soutien inestimable à l'industrie et à la recherche.
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