Occasion JEOL JEM 1230 #9245614 à vendre en France

JEOL JEM 1230 est un microscope électronique à balayage (SEM) à haute résolution conçu pour l'imagerie et l'analyse de spécimens. Doté d'un spectromètre à rayons X dispersif (EDS) et d'un détecteur STEM ultra haute résolution, l'instrument offre des performances exceptionnelles pour diverses applications, telles que l'évaluation microstructurale des matériaux, l'analyse des défaillances, la science des matériaux spatiaux et l'évaluation des matériaux. JEM 1230 offre une résolution supérieure jusqu'à 5 nm dans des conditions optimales. Cela permet l'imagerie de détails fins qui peuvent aider à caractériser la composition, la structure et la morphologie d'un échantillon. Le microscope utilise une géométrie inclinée inversée de 180 ° qui assure que l'échantillon est imagé de haut en bas. Ceci présente l'avantage de caractériser les grands échantillons efficacement et sans avoir besoin d'un repositionnement fréquent. JEOL JEM 1230 emploie un canon à émission de champ Schottky (FEG) avec une grande luminosité, une longue durée de vie et des coûts d'exploitation faibles. Cette conception de pointe minimise la charge des échantillons non conducteurs et permet un excellent contraste de l'image de l'échantillon. De plus, le microscope a une tension d'accélération allant jusqu'à 135 kV pour une plus grande profondeur de champ et une plus grande résolution. Pour assurer une analyse de haute précision et des résultats cohérents, diverses fonctions automatisées sont intégrées. Il s'agit notamment de l'optimisation automatisée du contraste des images, d'un système fiduciaire intégré et d'une amélioration de l'image numérique en direct. De plus, l'instrument comporte une étape motorisée de chargement et de positionnement de l'échantillon, ainsi qu'un système de filtrage avancé qui permet de caractériser des particules jusqu'à 1 nm. ou JEM 1230 est un microscope électronique à balayage haute performance avec une résolution supérieure et un ensemble de fonctionnalités robuste pour l'imagerie et l'analyse d'une variété d'échantillons. L'instrument dispose d'un canon à émission de champ Schottky (FEG) avec une grande luminosité et de faibles coûts de fonctionnement, une géométrie inclinée inversée de 180 ° qui assure une imagerie efficace des grands échantillons, et une tension d'accélération pouvant atteindre 135 kV pour une meilleure qualité d'image. Pour une analyse et une caractérisation précises des échantillons, JEOL JEM 1230 intègre un spectromètre à rayons X dispersifs d'énergie (EDS) et un détecteur STEM ultra haute résolution. De plus, plusieurs fonctions automatisées, telles que l'optimisation automatisée du contraste des images et les optimisations automatisées de la taille des particules, facilitent et accélèrent l'analyse des échantillons. Ces caractéristiques, combinées à une étape motorisée et à une amélioration de l'image numérique en direct, font de JEM 1230 un excellent choix pour l'évaluation microstructurale des matériaux, l'analyse des défaillances, la science des matériaux spatiaux et l'évaluation des matériaux.