Occasion JEOL JEM 1230 #9248904 à vendre en France

JEOL JEM 1230 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu avec la dernière technologie d'imagerie. Sa conception ergonomique comprend une large gamme d'inclinaisons, un grand étage motorisé, et une large option de chambre pour une flexibilité accrue. JEM 1230 est capable de scanner des spécimens jusqu'à 250 x 250 mm et offre une plage de grossissement allant jusqu'à 250 000 x. Cela permet d'observer la topologie de surface, le contraste de phase différentiel local et la coupe d'image. JEOL JEM 1230 est un SEM à faible vide avec une pompe à membrane sans huile qui nécessite un minimum de présence pour l'entretien, en fin de compte prolonger sa durée de vie. Il dispose également d'un système intégré d'injection de gaz pour l'introduction d'électrons secondaires qui aident à la détection d'améliorations et de caractéristiques à un rythme beaucoup plus rapide. JEM 1230 dispose également d'un large éventail de détecteurs comprenant un détecteur de pression variable, un détecteur d'électrons secondaire et un détecteur d'électrons rétrodiffusés, chacun conçu pour capturer divers éléments d'un échantillon. Le détecteur de pression variable est conçu pour améliorer la sensibilité de surface et est capable de basculer entre 1Pa ~ 15Pa. De plus, le détecteur d'électrons secondaire est capable de former des images sélectionnables qui peuvent être utilisées pour observer la topologie de l'échantillon avec une épaisseur apparente et une rugosité apparente. Le détecteur de rétrodiffusion est conçu pour acquérir la forme d'une surface d'échantillon et capturer diverses caractéristiques à un grossissement donné. JEOL JEM 1230 est en outre équipé d'un système de caméras numériques multi-modes capable de capturer plusieurs images de spécimens puis de les coudre ensemble pour une clarté et un détail supérieurs. Le Sem permet l'acquisition rapide d'images et des mesures EDX (Energy dispersive X-ray) flexibles pour jusqu'à quatre détecteurs indépendants. Le fonctionnement du système est presque sans effort avec une interface utilisateur très durable capable de fournir des données transparentes, une nalyse, la compatibilité logicielle et le fonctionnement à distance. En outre, JEM 1230 est parfait pour l'inspection industrielle et les applications de recherche, offrant une imagerie haute résolution d'une variété de matériaux. La technologie d'imagerie de pointe utilisée par ce SEM offre une flexibilité et une précision inégalées, ouvrant la voie à une nouvelle ère de performance SPM.