Occasion JEOL JEM 1230 #9395151 à vendre en France

JEOL JEM 1230 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie et l'analyse chimique. JEM 1230 est composé d'un certain nombre de composants dont une source d'électrons, un déflecteur d'électrons, un détecteur d'électrons et un porte-spécimen. La source d'électrons est une source d'émission thermionique et produit un faisceau d'électrons qui est ensuite collimaté pour produire un faisceau focalisé. JEOL JEM 1230 a une source d'électrons de haute stabilité avec un système de protection contre l'oxydation des filaments qui assure une grande stabilité et une longue durée de vie des filaments. Le déflecteur électronique est utilisé pour balayer le faisceau d'électrons sur la surface de l'échantillon. Il comprend deux sous-systèmes, une unité déflecteur et un système de balayage. Le déflecteur dévie le faisceau d'électrons pour couvrir toute la surface de l'échantillon et le système de balayage déplace l'étage de l'échantillon par rapport au faisceau d'électrons dans les directions X et Y. Le détecteur d'électrons est utilisé pour détecter les électrons secondaires émis de la surface de l'échantillon. Selon l'application et l'échantillon, le détecteur peut être configuré sur mesure pour fournir des images d'analyse topographique ou élémentaire. De plus, le détecteur peut être équipé d'un appareil photo numérique pour améliorer la résolution et le contraste. Le porte-échantillon est conçu pour maintenir solidement l'échantillon dans la chambre à vide SEM. Selon les exigences de l'application, les porte-échantillons peuvent être configurés pour les applications macro ou micro, ainsi que les applications cryo. Dans l'ensemble, JEM 1230 est un SEM haute performance conçu pour fournir une haute résolution et l'imagerie de contraste et l'analyse chimique. Avec sa source d'électrons stable, ses systèmes de détection et de déflecteur haute performance et ses porte-échantillons compatibles, JEOL JEM 1230 peut fournir des informations précieuses sur la composition et la structure des échantillons.