Occasion JEOL JEM 1400 Plus #293821997 à vendre en France
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ID: 293821997
Transmission Electron Microscope (TEM)
OXFORD INSTRUMENTS Xplore EDS detector
Pump
Chiller
PC.
JEOL JEM 1400 Plus est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie de précision et les mesures analytiques des matériaux de surface et des caractéristiques des échantillons solides. Cet instrument haute performance offre une multitude de fonctionnalités et de fonctionnalités qui permettent une analyse détaillée, y compris une meilleure orticon, une meilleure résolution, des opérations à vide élevé, un système de balayage ultra-rapide, et une large gamme d'instruments pour l'analyse d'échantillons. Avec ses images de contraste élevé, JEOL JEM 1400PLUS fournit des images supérieures qui sont capables d'afficher des couches minces d'atomes et de particules simples. L'écran ultra-haut New Focus de l'instrument est idéal pour afficher des images détaillées même à des grossissements élevés. Ses opérations à vide élevé permettent de produire des images à haute résolution avec une détérioration minimale de l'échantillon. De plus, le système de numérisation New Focus est idéal pour capturer des données sur une petite zone avec une grande précision. Avec son orticon avancé, l'instrument est capable de produire des détails même aux plus hauts grossissements. JEM-1400PLUS comprend un large éventail de fonctionnalités et de capacités qui peuvent être adaptées aux besoins de l'utilisateur. Ses modes Haut Q/Bas Q permettent à l'utilisateur d'ajuster le contraste, la luminosité et le gain TV pour produire des images à fort contraste et à faible contraste. Ses fonctions de numérisation avancées permettent aux utilisateurs de recueillir avec précision des données sur de plus grandes zones et d'afficher plusieurs images sur le même écran. L'instrument est en outre équipé d'une large gamme de détecteurs d'électrons et de rayons X à des fins d'imagerie et d'analyse. JEOL JEM-1400PLUS est idéal pour une variété de recherches et d'applications. Ses capacités d'imagerie supérieures peuvent être utilisées pour étudier les nanostructures en science des matériaux et en biologie, et ses capacités d'analyse facilitent l'étude des propriétés physiques et chimiques des matériaux de surface. Le fonctionnement à vide élevé de l'instrument permet également d'examiner des échantillons pour des applications aérospatiales et semi-conductrices. De plus, ses filtres d'énergie avancés permettent à l'utilisateur d'étudier la composition chimique de l'échantillon.
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