Occasion JEOL JEM 1400 Plus #9238369 à vendre en France

JEOL JEM 1400 Plus est un microscope électronique à balayage par émission de champ (FESEM) utilisé pour l'imagerie et la microanalyse. Il utilise un pistolet à émission de champ froid, offrant une grande luminosité et un faible courant de faisceau, ce qui permet une imagerie haute résolution avec des images claires et crues. Le microscope a une tension d'accélération de 5-30kV, ce qui contribue à la résolution et permet de déterminer les structures cristallines et les composantes de phase de divers matériaux. Un détecteur dans la lentille peut également être utilisé pour obtenir de meilleures informations sur les échantillons avec moins de dommages au faisceau. La décélération intégrée du faisceau permet une interaction douce des échantillons qui permet une imagerie SE1 haute résolution et des résultats d'imagerie ultra haute résolution. Le détecteur intégré permet une auto-focalisation rapide et précise du microscope, ce qui le rend parfait pour l'imagerie topographique 3D. La haute tension d'extraction lui confère également une grande profondeur de focalisation, ce qui la rend apte à l'imagerie de grandes surfaces courbes. En plus de l'imagerie, JEOL JEM 1400PLUS est également équipé de diverses capacités d'analyse. Il possède des détecteurs de spectroscopie de rayons X dispersive d'énergie (EDX) et de diffraction de rétrodiffusion d'électrons (EBSD) qui peuvent être utilisés pour obtenir la distribution élémentaire, ainsi que les informations cristallines du matériau examiné. De plus, des images/détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés peuvent également être utilisés pour observer la structure de surface de l'échantillon. JEM-1400PLUS est polyvalent, économique et facile à utiliser avec des performances de haute résolution pour toutes les applications. C'est un outil idéal pour les instituts de recherche et les laboratoires industriels à la recherche d'un microscope électronique à balayage avec des capacités analytiques avancées.