Occasion JEOL JEM 1400 Plus #9304360 à vendre en France

JEOL JEM 1400 Plus est un instrument de microscopie électronique à balayage analytique (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution, l'analyse élémentaire et la quantification précise de la morphologie des matériaux. Avec sa grande profondeur de champ, ses capacités d'imagerie supérieures et ses fonctionnalités automatisées avancées, cet instrument a une variété d'applications dans plusieurs disciplines. JEOL JEM 1400PLUS comprend à la fois des modes à pression variable et à pression variable (ESEM) offrant à l'utilisateur la polyvalence des échantillons d'image sans nécessiter de modifications chimiques ni de dépôt sous vide. Le système comprend un canon à électrons à incandescence LaB 6 pour produire un faisceau d'électrons stable de 5,0 kV avec une taille de tache inférieure à 3 nanomètres. Les fonctionnalités automatisées de pointe pour le positionnement, la focalisation et la stigmatisation rendent le fonctionnement JEM-1400PLUS rapide et simple. Le MJE 1400PLUS a une colonne articulée spéciale qui permet à l'étage de l'échantillon de se déplacer dans le champ de vision affichant des échantillons plus grands que ce qui peut être contenu dans son champ de vue. Cette fonctionnalité rend l'imagerie d'échantillons plus efficace, surtout lorsqu'il faut capturer plusieurs images à différents grossissements. La résolution d'image est encore améliorée par l'inclusion d'un correcteur d'aberration chromatique qui minimise les distorsions et le flou d'image dû à l'aberration chromatique. JEOL JEM-1400PLUS offre une gamme de systèmes de détection pour fournir à l'utilisateur des informations sur les caractéristiques de l'échantillon. Cela comprend un système semi-automatique de spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), qui produit des spectres de dispersion d'énergie à haute résolution pour l'analyse qualitative et l'information sur la composition de l'échantillon. Le détecteur EBSD du 1400 Plus est spécialement conçu pour fournir à l'utilisateur une cartographie d'orientation cristalline pour les matériaux cristallins et nanocristallins. Le mode d'analyse point unique (SPAM) de JEM 1400 Plus permet aux utilisateurs de collecter plusieurs cartes analytiques à partir d'une seule zone avec des reconfigurations automatiques du faisceau basées sur les spécifications prédéterminées des utilisateurs. Enfin, le détecteur intégré de cathodoluminescence peut être utilisé pour générer automatiquement une variété de cartes telles que des cartes de composition chimique et de polarisation. À l'extrémité supérieure du champ de microscopie électronique, JEOL JEM 1400 Plus est un outil d'analyse puissant avec ses capacités d'imagerie, d'analyse élémentaire et de quantification morphologique inégalées.