Occasion JEOL JEM 1400 #293752726 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
ID: 293752726
Transmission Electron Microscope (TEM)
GATAN Orius SC1000 / SC600
GATAN UltraScan 4000
Single specimen holder: ±26°
High tilt specimen holder: ±70°
Orius fastscan digital camera
GATAN Ultrascan high-resolution digital camera
Magnification range: 50x and 1,200,000x
Power supply: 120 keV.
JEOL JEM 1400 est un microscope électronique à balayage sophistiqué (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'une large gamme d'échantillons dans diverses applications scientifiques et industrielles. Cet instrument de pointe combine une technologie de pointe avec des fonctionnalités conviviales pour fournir aux chercheurs, aux scientifiques et aux ingénieurs des outils puissants pour visualiser et caractériser les matériaux à l'échelle micro- et nanométrique. Au cœur de JEM 1400 se trouve une colonne d'électrons qui génère un faisceau focalisé d'électrons de haute énergie pour interagir avec la surface de l'échantillon. Le SEM utilise des systèmes électroniques-optiques, y compris des lentilles électromagnétiques et des ouvertures, pour manipuler et contrôler le faisceau d'électrons pour l'imagerie et l'analyse précises. Le faisceau d'électrons balaye la surface de l'échantillon dans un motif raster, générant des signaux qui sont détectés et traités pour former des images détaillées avec une résolution et un contraste exceptionnels. Avec une tension d'accélération maximale de 120 kV, JEOL JEM 1400 peut atteindre des niveaux de grossissement élevés, permettant aux utilisateurs de visualiser des échantillons avec une résolution de sous-microns et même de nanomètres. Cette capacité est essentielle pour examiner les structures de surface fines, les particules et les caractéristiques qui sont hors de portée des microscopes optiques classiques. Les performances d'imagerie à haute résolution de l'instrument sont complétées par des systèmes avancés de détection de signaux, tels que des détecteurs d'électrons secondaires (SE) et d'électrons rétrodiffusés (ESB), qui captent différents types de signaux électroniques émis par l'échantillon. JEM 1400 propose une gamme de modes et de techniques d'imagerie pour répondre à divers besoins de recherche. En plus des modes d'imagerie standard comme l'imagerie SE et l'ESB, le microscope offre des capacités avancées telles que la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire, la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD) pour la cartographie cristallographique et la cathodoluminescence (CL) pour l'étude des propriétés luminescentes. Ces techniques permettent aux chercheurs d'obtenir des informations précieuses sur la composition, la structure et les propriétés des échantillons à l'échelle micro- et nanométrique. En outre, JEOL JEM 1400 est équipé de fonctionnalités innovantes d'automatisation et de logiciels pour améliorer l'efficacité et la productivité des utilisateurs. L'interface utilisateur intuitive du microscope permet de contrôler facilement les paramètres d'imagerie, la navigation des spécimens et l'acquisition de données. Les routines automatisées de focalisation, de stigmatisation et d'alignement des faisceaux rationalisent les flux de travail expérimentaux et assurent la reproductibilité des résultats d'imagerie. De plus, de puissants logiciels de traitement et d'analyse d'images permettent aux utilisateurs d'extraire des données quantitatives, d'effectuer des analyses de particules et de créer des visualisations détaillées de leurs échantillons. JEM 1400 est un instrument polyvalent et fiable qui répond aux exigences des laboratoires de recherche modernes, des établissements universitaires et des installations industrielles. Sa conception robuste, ses excellentes performances d'imagerie et ses capacités analytiques avancées en font un outil indispensable pour un large éventail d'applications, y compris la science des matériaux, la nanotechnologie, la géoscience, la recherche biologique et l'analyse des semi-conducteurs. Qu'il s'agisse de microstructures, de propriétés de surface ou de compositions chimiques, ce SEM offre des solutions d'imagerie et d'analyse de haute qualité qui stimulent la découverte scientifique et l'innovation technologique.
Il n'y a pas encore de critiques