Occasion JEOL JEM 1400 #9199923 à vendre en France

JEOL JEM 1400 est un microscope électronique à balayage (SEM) avec un analyseur de rayons X à dispersion d'énergie intégrée (EDS). Il s'agit d'un outil précieux pour la recherche analytique et en sciences des matériaux, permettant la visualisation et l'analyse de microstructures jusqu'à des niveaux de détail inférieurs à microns. Il dispose d'un système de contrôle automatisé très stable et précis, ainsi que d'excellentes capacités d'analyse. Divers modes de SEM sont disponibles, y compris la dépression, la pression variable pour les observations in situ et la cryo-SEM pour l'examen des échantillons hydratés congelés. L'instrument comprend également un étage automatisé pour le positionnement des échantillons et une interface d'automatisation pour le chargement/déchargement des échantillons, les transferts d'échantillons à échantillons, et le fonctionnement par des logiciels à distance tels que la microscopie ionique à balayage (SIM) ou l'autoportrait d'électrons secondaires (SEAP). La plage de tension de fonctionnement de JEM 1400 est de 0.5kV à 30kV, et elle a une résolution de 2azim (angulaire). Ses capacités de résolution latérale et verticale sont de 0,7nm à 1kV, et de 0,6nm à 30kV. Il est également équipé d'un filtre d'énergie dans la colonne, ce qui lui donne une meilleure capacité de filtrage de l'énergie pour moins d'interférences à des tensions plus élevées. JEOL JEM 1400 comprend également des fonctionnalités telles que la stigmatisation du faisceau d'électrons, le traitement du signal numérique, la capacité du protocole d'exposition automatique, le transfert multiple d'échantillons et un système de traitement d'image amélioré. Le réseau de détecteurs est très sensible et comprend des détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés. Le détecteur d'électrons secondaire a un grand champ de vision, permettant une imagerie plus rapide à des grossissements plus importants. Pour les mesures automatisées, JEM 1400 comprend une suite de logiciels de métrologie pour faciliter les mesures automatisées de surface et linéaires sur plusieurs axes, ainsi que l'analyse automatique de la composition élémentaire avec l'EDS intégré. Les mêmes capacités d'automatisation peuvent être utilisées pour l'acquisition d'éléments électroniques secondaires et rétrodiffusés et de cartes compositionnelles, ce qui le rend idéal pour une analyse ciblée. Dans l'ensemble, JEOL JEM 1400 est un microscope électronique à balayage incroyablement polyvalent et puissant, adapté à une grande variété d'applications analytiques et métrologiques aux micro et nanostructures. Ses capacités d'automatisation efficaces, son système de contrôle de précision et sa capacité à capturer et à analyser divers échantillons en font un outil inestimable dans le domaine de la science mater pour ceux qui recherchent des capacités très avancées.