Occasion JEOL JEM 2000FX II #293636585 à vendre en France

JEOL JEM 2000FX II est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) pour la réalisation de recherches avancées dans les domaines des matériaux nano-structurés, de l'ingénierie biomédicale et de la science des matériaux. Il fournit une résolution proche de l'échelle atomique et aide à visualiser la microstructure des matériaux cristallins et non cristallins. Il a une configuration unique qui supporte les capacités d'observation automatisées en combinaison avec un détecteur d'électrons secondaires à angle élevé dans la lentille (SE) et un étage d'échantillonnage contrôlé par ordinateur. Le détecteur SE dans la lentille permet l'imagerie à faible grossissement et l'imagerie avec la plus haute résolution de 1,7 nm (à une tension d'accélération de 20 kV). Ce détecteur permet également l'imagerie de matériaux non conducteurs. JEM 2000FX II a un grossissement global de 3 000 - 400 000 X, utilisant un canon d'émission de champ de 120 kV de grande puissance avec un monochromateur fournissant un objectif longue distance de travail. L'étape d'échantillonnage peut être motorisée pour permettre la cartographie automatisée des spécimens sur de grandes surfaces. Avec la cartographie par étapes automatisée, la même zone d'un spécimen peut être scannée plusieurs fois pour générer une image à plus haute résolution. Le logiciel SEM Control est inclus pour simplifier le fonctionnement manuel. JEOL JEM 2000FX II est un système intuitif et convivial pour l'imagerie et l'analyse de surface. La visualisation des images peut être convertie en formats numériques pour une analyse plus poussée et une meilleure qualité des images. Les options d'imagerie étendue comprennent le champ lumineux, le champ sombre, la fausse couleur, la lumière polarisée et l'imagerie 3D. Plusieurs modes d'acquisition sont pris en charge pour une imagerie optimale, tels que les modes d'acquisition haute vitesse, grande surface et mono-image. Le microscope est également équipé d'un équipement automatisé pour l'analyse EDX et XRF. Cela permet une analyse chimique et élémentaire des échantillons en détectant le rayonnement électromagnétique des produits d'interactions entre l'échantillon et le faisceau. De plus, le mode d'imagerie à faible vide supporte toutes ces opérations d'analyse tout en minimisant les effets néfastes de la diffusion d'ions et des motifs d'interférence. Pour en assurer la facilité d'utilisation, JEM 2000FX II est conçu avec une seule colonne de microscope et le détecteur tout-en-un avec six détecteurs qui peuvent être combinés dans une unité ou montés séparément. Il a un design ergonomique, avec une interface utilisateur graphique contrôlée par PC, qui est alimenté par un PC monté à l'extérieur. Avec un flux de travail intuitif et une conception adaptée aux opérations, il peut aider à augmenter la productivité de la recherche.