Occasion JEOL JEM 2000FX #9075094 à vendre en France

JEOL JEM 2000FX est un type de microscopie électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie polyvalente. Il s'agit d'un SEM d'émission de champ thermionique capable d'obtenir des images à haute résolution et d'analyser la topographie, la composition et la morphologie de la surface. La microanalyse aux rayons X, utilisée pour déterminer la composition élémentaire, peut également être facilement réalisée avec cet instrument. Le système optique de JEOL 2000FX dispose d'un pistolet à émission de champ haute luminosité avec un objectif de grande distance de travail pour un meilleur fonctionnement. La lentille objectif et le canon à colonne sont équipés d'un système d'alignement automatique à grande vitesse commandé par ordinateur pour améliorer la focalisation des échantillons. Cela garantit une image précise et une observation optimale des échantillons. La tension maximale accélérée de JEOL 2000FX est de 160 kV, avec un minimum de 2 kV. L'instrument est également capable de fonctionner à pression variable/courant variable et peut fonctionner entre 0 et 600 Pa. JEOL 2000FX est équipé d'un étage de faible vibration qui est critique pour les échantillons qui peuvent être facilement endommagés par des vibrations. La plate-forme de contrôle est également capable de réglages fins et complets, ce qui rend le microscope idéal pour une variété d'orientations de spécimen. Le canon à colonne de JEOL 2000FX est également équipé d'un détecteur rétrodiffuseur commandé par ordinateur, permettant des images et des analyses d'électrons rétrodiffusés. Les interfaces de JEOL 2000FX sont connectées à un ordinateur en réseau, permettant le contrôle et l'acquisition de données à l'aide de logiciels dédiés. Les données peuvent être analysées et archivées facilement, fournissant des capacités de traitement d'image puissantes. JEOL 2000FX est un SEM très polyvalent idéal pour une grande variété d'applications dans les domaines de la science des matériaux, de l'industrie et de la biologie.